論光和電子的衍射與雙縫干涉實(shí)驗(yàn)及其中的成因:障礙物邊緣的正面反射和背面反射
發(fā)布時(shí)間:2022-02-25 05:48
我們都知道到目前為止都沒有任何一種理論可以很好并完美的解釋光和電子的衍射和雙縫干涉實(shí)驗(yàn)。特別是單光子或單電子的雙縫干涉實(shí)驗(yàn)。到底是什么原因?qū)е逻@樣?會(huì)不會(huì)其中又暗藏了什么我們未知的新的原理?要等著我們?nèi)ヌ剿靼l(fā)現(xiàn)!那什么又是障礙物邊緣的(正面反射)和(背面反射)?
【文章來源】:科學(xué)技術(shù)創(chuàng)新. 2020,(30)
【文章頁數(shù)】:5 頁
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]論光和電子的衍射與雙縫干涉實(shí)驗(yàn),及論如何突破光和電子的衍射極限提高光學(xué)及電子顯微鏡的分辨率[J]. 高國昌. 科學(xué)技術(shù)創(chuàng)新. 2020(01)
本文編號:3643813
【文章來源】:科學(xué)技術(shù)創(chuàng)新. 2020,(30)
【文章頁數(shù)】:5 頁
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]論光和電子的衍射與雙縫干涉實(shí)驗(yàn),及論如何突破光和電子的衍射極限提高光學(xué)及電子顯微鏡的分辨率[J]. 高國昌. 科學(xué)技術(shù)創(chuàng)新. 2020(01)
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