發(fā)布時間：2021-02-03 01:01

　　提出了基于對光彈顆粒的應(yīng)力光圖進行加載點至圓心的線掃描以測接觸力大小的辦法.在正交圓偏振光場中獲取了光彈顆粒的應(yīng)力光圖的等差條紋圖案后,通過數(shù)字圖像的處理,獲取顆粒模型邊界,得到顆粒圓心,半徑等信息.并從應(yīng)力光圖的平方灰度梯度分布圖出發(fā),提出一種能夠自動檢測顆粒的接觸點位置信息的方法.由多點加載的二維圓盤顆粒的光彈性原理,結(jié)合接觸點位置信息,在力范圍內(nèi),模擬得到每一種的接觸力情況的每一加載點至圓心連線上光強灰度變化.將其與實驗光強結(jié)果對比,可反推出顆粒接觸力的大小. 

【文章來源】：物理實驗. 2020,40(04)

【文章頁數(shù)】：7 頁

【文章目錄】：
1 二維多點加載的顆粒的光彈性原理
2 加載實驗裝置
3 對顆粒應(yīng)力光圖的數(shù)字圖像處理
    3.1 顆粒圓盤的邊界、圓心、半徑的提取
    3.2 邊界圓模板尋找加載點位置的方法
4 線掃描光強擬合確定接觸力的方法
    4.1 離散坐標系下直線的確定
    4.2 線掃描光強變化擬合法
5 結(jié)束語



本文編號：3015644