提出了基于對(duì)光彈顆粒的應(yīng)力光圖進(jìn)行加載點(diǎn)至圓心的線掃描以測(cè)接觸力大小的辦法.在正交圓偏振光場(chǎng)中獲取了光彈顆粒的應(yīng)力光圖的等差條紋圖案后,通過數(shù)字圖像的處理,獲取顆粒模型邊界,得到顆粒圓心,半徑等信息.并從應(yīng)力光圖的平方灰度梯度分布圖出發(fā),提出一種能夠自動(dòng)檢測(cè)顆粒的接觸點(diǎn)位置信息的方法.由多點(diǎn)加載的二維圓盤顆粒的光彈性原理,結(jié)合接觸點(diǎn)位置信息,在力范圍內(nèi),模擬得到每一種的接觸力情況的每一加載點(diǎn)至圓心連線上光強(qiáng)灰度變化.將其與實(shí)驗(yàn)光強(qiáng)結(jié)果對(duì)比,可反推出顆粒接觸力的大小. 

【文章來源】：物理實(shí)驗(yàn). 2020,40(04)

【文章頁數(shù)】：7 頁

【文章目錄】：
1 二維多點(diǎn)加載的顆粒的光彈性原理
2 加載實(shí)驗(yàn)裝置
3 對(duì)顆粒應(yīng)力光圖的數(shù)字圖像處理
    3.1 顆粒圓盤的邊界、圓心、半徑的提取
    3.2 邊界圓模板尋找加載點(diǎn)位置的方法
4 線掃描光強(qiáng)擬合確定接觸力的方法
    4.1 離散坐標(biāo)系下直線的確定
    4.2 線掃描光強(qiáng)變化擬合法
5 結(jié)束語



本文編號(hào)：3015644