基于結構光的光學三維測量技術以其高精度、高效率和非接觸性的優(yōu)點在高速檢測、產(chǎn)品開發(fā)、質(zhì)量控制、反向工程等領域得到了廣泛的應用。隨著現(xiàn)代制造業(yè)的飛速發(fā)展,對于許多精密零件、器件的質(zhì)量檢測要求會越來越高。雖然光學三維測量技術在漫反射物體的測量方面已經(jīng)相當成熟,但是對于類鏡面或鏡面的測量仍然是一個難點。因此鏡面三維方法測量研究具有很深遠的意義。傳統(tǒng)的鏡面測量方法中,采用正弦條紋作為投影條紋,由于顯示器的非線性影響,降低了條紋質(zhì)量。本文采用三角波條紋作為投影條紋,通過空氣系統(tǒng)的離焦作用,來獲得正弦條紋。CCD相機接收由于鏡面物體反射調(diào)制的變形條紋,將采集到的條紋圖像進行解調(diào)和相位解包裹來獲得鏡面物體的絕對相位,通過直接建立高度和絕對相位之間的數(shù)學模型,來恢復鏡面物體的三維形貌。本文研究內(nèi)容和工作主要包含以下幾個方面:1.分析三角波條紋離焦原理,對比三角波條紋和標準正弦條紋作為投影條紋CCD相機獲得條紋的正弦性,三角波條紋離焦能夠濾除幅值較小的高次諧波,濾除環(huán)境中存在的高頻噪聲,獲得更好的條紋質(zhì)量,減小LCD顯示器非線性對測量的誤差的影響。2.分析了相位展開算法,研究介紹了三頻相位展開法和三頻外... 

【文章來源】：南昌航空大學江西省

【文章頁數(shù)】：67 頁

【學位級別】：碩士

【部分圖文】：

鏡面表面物體

南昌航空大學碩士學位論文 第 1 章 緒論產(chǎn)中的額外成本。同時還可以很大程度地提高鏡面曲面產(chǎn)品最終的加工精度，最終為工業(yè)生產(chǎn)過程中實現(xiàn)快速、高精度的鏡面反射物體三維形貌測量奠定基礎[6]。為減小工業(yè)生產(chǎn)成本，研究一種系統(tǒng)結構簡單、非接觸、高精度、易于實現(xiàn)的鏡面反射物體三維形貌測量的方法，對于工業(yè)生產(chǎn)中類鏡面反射物體實現(xiàn)在線檢測具有很深遠的意義并已成為一項艱巨任務。1.2 鏡面物體的三維測量方法目前，對于鏡面物體的測量方法主要分為接觸式測量法, 掃描顯微鏡測量法和非接觸式測量法三種[7]。具體邏輯關系如下圖所示：

南昌航空大學碩士學位論文 第 1 章 緒論測試頭去接觸測量的物體表面，得到被接觸點在空間內(nèi)的精確坐標，從而恢復被測物的三維形貌。在 20 世紀早期，德國 Schmaltz 研究出的簡單、可靠、高精度的觸針式輪廓記錄儀，為物體表面三維形貌測量開啟了嶄新的篇章。但現(xiàn)在，隨著科技的發(fā)展，國際上涌現(xiàn)出很多三坐標測量機的供應商，例如，Zeiss、Hexagon、Metris LK、Mitutoyo 和 Leitz。Zeiss 公司的三坐標測量機 CONTURA，是一款橋式結構坐標測量儀，其測量精度可以高達 1.5um。

【參考文獻】：
期刊論文
[1]基于相位測量偏折術的反射表面缺陷檢測[J]. 陶遷,周志峰,吳明暉,王立瑞.  液晶與顯示. 2020(12)



本文編號：2971987