太赫茲無(wú)損檢測(cè)技術(shù)已經(jīng)在檢測(cè)金屬,陶瓷,復(fù)合材料,生物體等方向上有了很大的進(jìn)展,但是相比于其他傳統(tǒng)檢測(cè)方式,其成像技術(shù)還并不成熟,也遠(yuǎn)遠(yuǎn)沒(méi)有達(dá)到工業(yè)化應(yīng)用的要求,因此研究其成像方法以及提高其所成圖像的質(zhì)量對(duì)于推廣和發(fā)展太赫茲無(wú)損檢測(cè)技術(shù)具有重大的研究意義。本論文的研究?jī)?nèi)容是針對(duì)太赫茲成像系統(tǒng)得到被檢樣件的數(shù)據(jù),所做的主要工作就是對(duì)其得到的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行算法上的集成和改進(jìn),以適應(yīng)產(chǎn)品化應(yīng)用的設(shè)計(jì)需求。文章結(jié)合了實(shí)際工程經(jīng)驗(yàn)和產(chǎn)品應(yīng)用的方向,從太赫茲技術(shù)的理論及算法出發(fā),文章包含了以下部分的內(nèi)容:深入研究太赫茲產(chǎn)生以及探測(cè)的原理。介紹太赫茲產(chǎn)生的若干種方式。同時(shí)也介紹了太赫茲調(diào)頻連續(xù)波的探測(cè)原理,通過(guò)文中數(shù)學(xué)公式的推導(dǎo),我們可以更清晰的了解到它的特點(diǎn),并將利用其原理制造的探頭構(gòu)成成像系統(tǒng)。解釋太赫茲無(wú)損檢測(cè)圖像的來(lái)源以及性質(zhì)。主要使解釋如何從成像系統(tǒng)采集到的光學(xué)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為我們可以直接分析處理圖像,其次是介紹圖像的主要性質(zhì)為圖像中不同灰度代表著被檢測(cè)物體對(duì)太赫茲波不同的反射特性。太赫茲無(wú)損檢測(cè)圖像算法集成軟件系統(tǒng)。圖像算法種類較多,集成到一個(gè)軟件平臺(tái)來(lái)處理可以大大提高效率。我們使用了MATLA... 

【文章來(lái)源】：華中科技大學(xué)湖北省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁(yè)數(shù)】：47 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

太赫茲波的頻率分布

FMCW 仍然包含振幅和相位信息，并且它的相位信息是一個(gè)和時(shí)間有關(guān)的非線性函數(shù)。它的角頻率 (t )是( )( )d ttdt (2-6而相位 (t )可以表示為00( ) ( )t t t dt (2-70 是初始相位。將光場(chǎng)表示成為指數(shù)形式0( , ) exp[ ( )],nlE t E j tc (2-8這里0E 是出射光的振幅， 是延遲時(shí)間， l 是光傳播的距離。

14圖 2-2SynViewHead300 裝置分解示意圖 (ADC 表示數(shù)模轉(zhuǎn)換器，VCO 表示壓控振蕩器，delayer表示延時(shí)器，D 表示探測(cè)器，S 表示輻射源)本章主要介紹了太赫茲產(chǎn)生的幾種方式，以及探測(cè)的原理。太赫茲波的產(chǎn)生目前也是限制太赫茲發(fā)展的技術(shù)瓶頸，本章主要介紹了幾類較為成熟的產(chǎn)生方式，都已經(jīng)廣泛應(yīng)用于太赫茲的各個(gè)領(lǐng)域。而在探測(cè)上使用的調(diào)頻連續(xù)波，最早是使用在雷達(dá)探測(cè)上，通過(guò)文中數(shù)學(xué)公式的推導(dǎo)，我們可以更清晰的了解到它的特點(diǎn)。因此，將調(diào)頻連續(xù)波技術(shù)應(yīng)用于太赫茲的探測(cè)，是有重大優(yōu)勢(shì)的，在后文中，我們?cè)诤笪闹袝?huì)以成像結(jié)果的方式展示它的特性。2.2 太赫茲無(wú)損檢測(cè)圖像的采集與特性本論文所研究的太赫茲圖像是來(lái)源于太赫茲調(diào)頻連續(xù)波成像系統(tǒng) SynViewHead300 在對(duì)被檢測(cè)樣品進(jìn)行掃描之后所得到的光學(xué)數(shù)據(jù)，該數(shù)據(jù)包含整個(gè)掃描空間內(nèi)反射

【參考文獻(xiàn)】：
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碩士論文
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本文編號(hào)：2967188