徑向剪切干涉法非球面面形檢測(cè)技術(shù)研究
【學(xué)位單位】:西安工業(yè)大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位年份】:2018
【中圖分類(lèi)】:O436.1;TP391.41
【部分圖文】:
西安工業(yè)大學(xué)碩士學(xué)位論文 24 61 24 621 1 1s rz A s A sk s r 面與光軸的交點(diǎn)處的曲率半徑(非球面沿光軸對(duì)稱(chēng)),非球面可分為二次曲面和高次曲面兩大類(lèi),其中二第一項(xiàng)有關(guān),與其他項(xiàng)無(wú)關(guān),即: 21 221 1 1s rzk s r 值所對(duì)應(yīng)的二次曲面形狀。
1.1 是k 的不同取值所對(duì)應(yīng)的二次曲面形狀。圖 1.1 二次曲面形狀2)非球面度非球面度則是用來(lái)描述非球面面形的一個(gè)重要參數(shù),它的大小直接反映了光學(xué)元件工難易程度,通常情況下盡可能使非球面度小。目前,非球面度有以下三個(gè)方向的定原理圖如圖 1.2 所示[9]。
技術(shù)以及計(jì)算機(jī)技術(shù)的引入,使得波面檢測(cè)技術(shù)光波前診斷、航天航空等領(lǐng)域中,F(xiàn)將波面光波的斜率來(lái)得到波面的相位信息,如 Sha曲率來(lái)得到波面的相位信息,如曲率傳感器信息,如斐索、剪切干涉等。下面對(duì)幾種光感器(SHWS):其原理圖見(jiàn)圖 1.3,波面經(jīng)微 靶面上形成光斑。若將理想波和畸變波分別則的光斑(圖 1.3 的深實(shí)線)和散亂的光斑(圖于規(guī)則光斑位置發(fā)生了偏移,這些偏移量攜算法計(jì)算出來(lái)之后利用波面重構(gòu)算法可將待,且對(duì)光源的相干性要求較低;檢測(cè)中不存精度高致使透鏡陣列加工成本變高;有限的0]。
【參考文獻(xiàn)】
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本文編號(hào):2869621
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