徑向剪切干涉法非球面面形檢測技術研究
【學位單位】:西安工業(yè)大學
【學位級別】:碩士
【學位年份】:2018
【中圖分類】:O436.1;TP391.41
【部分圖文】:
西安工業(yè)大學碩士學位論文 24 61 24 621 1 1s rz A s A sk s r 面與光軸的交點處的曲率半徑(非球面沿光軸對稱),非球面可分為二次曲面和高次曲面兩大類,其中二第一項有關,與其他項無關,即: 21 221 1 1s rzk s r 值所對應的二次曲面形狀。
1.1 是k 的不同取值所對應的二次曲面形狀。圖 1.1 二次曲面形狀2)非球面度非球面度則是用來描述非球面面形的一個重要參數(shù),它的大小直接反映了光學元件工難易程度,通常情況下盡可能使非球面度小。目前,非球面度有以下三個方向的定原理圖如圖 1.2 所示[9]。
技術以及計算機技術的引入,使得波面檢測技術光波前診斷、航天航空等領域中,F(xiàn)將波面光波的斜率來得到波面的相位信息,如 Sha曲率來得到波面的相位信息,如曲率傳感器信息,如斐索、剪切干涉等。下面對幾種光感器(SHWS):其原理圖見圖 1.3,波面經(jīng)微 靶面上形成光斑。若將理想波和畸變波分別則的光斑(圖 1.3 的深實線)和散亂的光斑(圖于規(guī)則光斑位置發(fā)生了偏移,這些偏移量攜算法計算出來之后利用波面重構算法可將待,且對光源的相干性要求較低;檢測中不存精度高致使透鏡陣列加工成本變高;有限的0]。
【參考文獻】
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