基于THGEM與CCD光讀出成像探測(cè)器研究
【圖文】:
發(fā)展比較成熟的微結(jié)構(gòu)氣體探測(cè)器,其位置和能量分辨大面積制作,已被成功推廣應(yīng)用于徑跡探測(cè)、中子探物理實(shí)驗(yàn)等領(lǐng)域。逡逑為GEM非常。ㄕ搴穸燃s為70pm),容易出現(xiàn)打GEM的結(jié)構(gòu)特點(diǎn),A.Breskin等在2004年提出并發(fā)(即THGEM)。THGEM的制作采用了標(biāo)準(zhǔn)的印刷電路(或激光打孔)和蝕刻技術(shù),其工作原理和物理結(jié)構(gòu)與理尺寸可放大至GEM的5-20倍然而,通常THGE.15mm-1.2mm之間,孔徑大小一般與厚度一致,孔間,利用蝕刻工藝給THGEM的微孔增加了邋rim邋(邊緣),放電,并且顯著地提高了探測(cè)器的增益性能[19],圖為孔結(jié)構(gòu)圖。本文中涉及的THGEM膜厚度都為0.2mm,[2Q,,21]。逡逑
薄型邋THGEM[2Q,21]。逡逑lyirywi逡逑圖1-1邋THGEM微孔結(jié)構(gòu)逡逑Fig.邋1-1邋The邋micropore邋structure邋of邋THGEM逡逑THGEM通常采用成本較低的FR-4為制作基材,FR-4邋(—種環(huán)氧玻璃布層逡逑壓板)是一種常用于制造PCB的材料,它具有良好的電氣性能,尤其體現(xiàn)在耐逡逑燃性、絕緣性和良好的機(jī)械加工能力等方面,因此THGEM比GEM更加堅(jiān)固,逡逑不易損壞,清潔程度要求低,利于保養(yǎng),優(yōu)良的耐打火性利于重復(fù)使用,而且逡逑造價(jià)也更加便宜。雖然在位置分辨方面THGEM比標(biāo)準(zhǔn)GEM稍遜一籌,但是逡逑基于成熟的PCB加工工藝,THGEM易于大面積制作,能滿(mǎn)足一些對(duì)位置分辨逡逑要求不高,卻需要大面積、快輻射成像實(shí)驗(yàn)的要求。隨著對(duì)THGEM性能優(yōu)化逡逑工作的不斷深入
【學(xué)位授予單位】:廣西大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2018
【分類(lèi)號(hào)】:O572.212
【參考文獻(xiàn)】
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本文編號(hào):2660841
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