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射頻離子源朗繆爾雙探針設(shè)計(jì)

發(fā)布時(shí)間:2018-11-19 21:01
【摘要】:射頻離子源具有的復(fù)雜電磁環(huán)境會(huì)干擾甚至使得朗繆爾單探針無(wú)法準(zhǔn)確獲得等離子體參數(shù)。雙探針具有對(duì)等離子體的干擾較小,不需要參考電位等優(yōu)點(diǎn),因此更加適用于射頻離子源下的等離子體診斷。為了使得朗繆爾雙探針更加精確地測(cè)量電子溫度與離子密度,必需在測(cè)量電路中增加針對(duì)干擾源頻率的濾波電路系統(tǒng)。本文針對(duì)射頻離子源等離子體診斷設(shè)計(jì)了探針測(cè)量電路,并進(jìn)行了仿真計(jì)算和分析,結(jié)果表明:探針的抗干擾能力與測(cè)量精度均具有明顯的改善。
[Abstract]:The complex electromagnetic environment of the RF ion source may interfere with or even make the Langmuir single probe unable to obtain the plasma parameters accurately. The double probe has the advantages of less interference to plasma and no reference potential, so it is more suitable for plasma diagnosis under RF ion source. In order to make Langmuir double probe measure electron temperature and ion density more accurately, the filter circuit system for interference source frequency must be added to the measuring circuit. In this paper, the probe measurement circuit is designed for the RF ion source plasma diagnosis, and the simulation calculation and analysis are carried out. The results show that the anti-interference ability and measurement accuracy of the probe are improved obviously.
【作者單位】: 中國(guó)科學(xué)院等離子體物理研究所;中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)科學(xué)島分院;
【基金】:國(guó)家自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目(11405207,11505224,11505225)
【分類(lèi)號(hào)】:TL65

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本文編號(hào):2343410

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