射頻離子源朗繆爾雙探針設(shè)計(jì)
[Abstract]:The complex electromagnetic environment of the RF ion source may interfere with or even make the Langmuir single probe unable to obtain the plasma parameters accurately. The double probe has the advantages of less interference to plasma and no reference potential, so it is more suitable for plasma diagnosis under RF ion source. In order to make Langmuir double probe measure electron temperature and ion density more accurately, the filter circuit system for interference source frequency must be added to the measuring circuit. In this paper, the probe measurement circuit is designed for the RF ion source plasma diagnosis, and the simulation calculation and analysis are carried out. The results show that the anti-interference ability and measurement accuracy of the probe are improved obviously.
【作者單位】: 中國(guó)科學(xué)院等離子體物理研究所;中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)科學(xué)島分院;
【基金】:國(guó)家自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目(11405207,11505224,11505225)
【分類(lèi)號(hào)】:TL65
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,本文編號(hào):2343410
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