基于快速拋光技術(shù)的光學(xué)元件材料去除模型研究
本文選題:機械制造工藝與設(shè)備 + 光學(xué)元件��; 參考:《兵工學(xué)報》2017年03期
【摘要】:為精確控制拋光階段材料去除,實現(xiàn)光學(xué)元件的確定性拋光加工,在分析快速拋光原理和快速拋光材料去除機制基礎(chǔ)上,從單顆磨粒受力和拋光墊峰點捕獲的磨粒數(shù)出發(fā),獲得量化的單顆磨粒瞬時切除體積和拋光接觸區(qū)參與有效磨粒數(shù),從而建立一種光學(xué)元件快速拋光材料去除模型。研究結(jié)果表明:以材料去除量為實驗對象,在不同拋光液、拋光墊和光學(xué)元件實驗條件下,材料去除模型的理論預(yù)測結(jié)果與實驗結(jié)果較為吻合,材料去除量誤差可以控制在9%以內(nèi)。驗證了該模型對于光學(xué)元件快速拋光技術(shù)的適用性,從而可以確定性的控制快速拋光時間和效率。
[Abstract]:In order to accurately control the material removal in the polishing stage and realize the deterministic polishing of optical elements, based on the analysis of the principle of fast polishing and the removal mechanism of fast polishing materials, the force of single abrasive particle and the number of abrasive particles captured at the peak point of polishing pad are analyzed. The instantaneous removal volume of a single abrasive particle and the effective number of abrasive particles in the polished contact zone are obtained, and a model for fast polishing material removal of optical elements is established. The results show that the theoretical prediction results of the material removal model are in good agreement with the experimental results under the experimental conditions of different polishing fluids, polishing pads and optical elements, taking the material removal amount as the experimental object. The material removal error can be controlled within 9%. The applicability of the model to the rapid polishing of optical elements is verified, so that the fast polishing time and efficiency can be controlled definitively.
【作者單位】: 廈門大學(xué)航空航天學(xué)院;中國工程物理研究院激光聚變研究中心;
【基金】:國家自然科學(xué)基金項目(51675453) 福建省高等學(xué)校創(chuàng)新能力提升計劃項目(2013年)
【分類號】:TN24
【相似文獻】
相關(guān)期刊論文 前10條
1 力源;用現(xiàn)代方法制造光學(xué)元件[J];應(yīng)用光學(xué);2005年01期
2 ;光學(xué)元件庫——歐普特科技[J];大學(xué)物理;2005年02期
3 ;光學(xué)元件庫——歐普特科技[J];大學(xué)物理;2005年07期
4 ;光學(xué)元件庫——歐普特科技[J];大學(xué)物理;2005年10期
5 ;光學(xué)元件庫——歐普特科技[J];大學(xué)物理;2005年11期
6 于允平;;塑料光學(xué)元件的發(fā)展及應(yīng)用[J];光學(xué)技術(shù);1990年02期
7 ;光學(xué)元件測試與設(shè)備[J];中國光學(xué)與應(yīng)用光學(xué)文摘;2000年02期
8 李瑞琴;;光學(xué)元件測試與設(shè)備[J];中國光學(xué)與應(yīng)用光學(xué)文摘;2001年06期
9 ;光學(xué)元件測試與設(shè)備[J];中國光學(xué)與應(yīng)用光學(xué)文摘;2002年02期
10 ;光學(xué)元件[J];電子科技文摘;2002年11期
相關(guān)會議論文 前10條
1 李偉;許喬;胡曉陽;;高精度高閾值光學(xué)元件制造[A];中國工程物理研究院科技年報(2000)[C];2000年
2 陳曉蘋;;光學(xué)元件表面質(zhì)量穩(wěn)定性預(yù)測方法研究[A];第十四屆全國光學(xué)測試學(xué)術(shù)討論會論文(摘要集)[C];2012年
3 梁景芳;李錫善;;大尺寸高精度平面光學(xué)元件的制造和檢測[A];第九屆全國光學(xué)測試學(xué)術(shù)討論會論文(摘要集)[C];2001年
4 王偉平;;強激光對傳輸光學(xué)元件熱效應(yīng)的數(shù)值模擬研究[A];中國工程物理研究院科技年報(2003)[C];2003年
5 黃祖鑫;胡曉陽;周文超;田小強;;光學(xué)元件微吸收特性測量儀研制進展[A];第十四屆全國光學(xué)測試學(xué)術(shù)討論會論文(摘要集)[C];2012年
6 張蓉竹;楊春林;許喬;蔡邦維;;強光系統(tǒng)光學(xué)元件波前相位梯度分析[A];第九屆全國光學(xué)測試學(xué)術(shù)討論會論文(摘要集)[C];2001年
7 蔡榮;許全益;楊力;伍凡;;高精度同心光學(xué)元件制作工藝技術(shù)[A];2002年中國光學(xué)學(xué)會年會論文集[C];2002年
8 鄧燕;柴立群;許喬;;強光光學(xué)元件波前檢測算法[A];中國工程物理研究院科技年報(2005)[C];2005年
9 王占山;張眾;吳永榮;陳玲燕;;中子多層膜光學(xué)元件研究[A];第三屆散裂中子源多學(xué)科應(yīng)用研討會論文集[C];2006年
10 李思濤;葉嘉雄;阮玉;徐啟陽;郭志霞;;二元光學(xué)元件的制作及其誤差分析[A];湖北省激光學(xué)會論文集[C];2000年
相關(guān)重要報紙文章 前5條
1 山西長城微光器材股份有限公司 吳宇軒;淺析光學(xué)元件的表面質(zhì)量[N];山西科技報;2011年
2 徐永濤;鳳凰光學(xué):光學(xué)元件龍頭 參股銀行[N];中國證券報;2007年
3 ;IBM宣布在激光芯片領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)重大突破[N];計算機世界;2010年
4 記者 張兆軍 通訊員 于萬冰;“刻寫”世界高精尖[N];科技日報;2001年
5 本報記者 宋廣玉 本報通訊員 陳寧 洪立軍;南京英田光學(xué)攻克激光可控核聚變瓶頸[N];南京日報;2011年
相關(guān)博士學(xué)位論文 前9條
1 楊亮;光學(xué)元件表面污染對負(fù)載能力影響的研究[D];電子科技大學(xué);2016年
2 師智全;大型固體激光裝置光學(xué)元件結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性分析研究[D];中國工程物理研究院北京研究生部;2003年
3 彭志濤;強激光復(fù)雜光機組件光學(xué)元件激光損傷在線檢測技術(shù)研究[D];中國工程物理研究院;2011年
4 陳曉蘋;延長玻璃質(zhì)光學(xué)元件工作壽命的表面強化技術(shù)研究[D];中國科學(xué)院研究生院(長春光學(xué)精密機械與物理研究所);2011年
5 馮博;慣性約束聚變終端光學(xué)元件損傷在線檢測技術(shù)研究[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2014年
6 張蓉竹;ICF系統(tǒng)光學(xué)元件高精度波前檢測技術(shù)研究[D];四川大學(xué);2003年
7 聶婭 ;亞波長光學(xué)元件的特性及應(yīng)用研究[D];四川大學(xué);2004年
8 谷勇強;投影光刻物鏡光學(xué)元件的離子束精修技術(shù)研究[D];中國科學(xué)院研究生院(長春光學(xué)精密機械與物理研究所);2013年
9 胡春暉;航天高光譜儀光學(xué)元件位置誤差影響研究[D];中國科學(xué)院研究生院(長春光學(xué)精密機械與物理研究所);2013年
相關(guān)碩士學(xué)位論文 前10條
1 呂旭冬;基于機器學(xué)習(xí)的終端光學(xué)元件損傷識別及分類研究[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2015年
2 穆綿;投影法光學(xué)元件面形檢測技術(shù)研究[D];西安工業(yè)大學(xué);2013年
3 王文博;大口徑快速拋光機設(shè)計與相關(guān)問題研究[D];中原工學(xué)院;2015年
4 張興鑫;基于損耗特性的光學(xué)元件表面質(zhì)量表征研究[D];中國科學(xué)院研究生院(光電技術(shù)研究所);2016年
5 林建興;超光滑光學(xué)元件表面表征方法研究[D];福州大學(xué);2014年
6 戚子文;基于移相干涉的光學(xué)元件位相缺陷檢測技術(shù)的研究[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2016年
7 許楠楠;圓形光學(xué)元件輪廓自動檢測技術(shù)研究[D];西安工業(yè)大學(xué);2016年
8 呂少龍;基于電場和氣流的光學(xué)表面污染物在位去除技術(shù)研究[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2016年
9 韓豐明;激光清洗光學(xué)元件表面污染的機理與應(yīng)用研究[D];電子科技大學(xué);2016年
10 李陽;超光滑球面光學(xué)元件表面缺陷檢測及定量化評價研究[D];浙江大學(xué);2016年
,本文編號:1894026
本文鏈接:http://sikaile.net/kejilunwen/wulilw/1894026.html