不等光程法太赫茲波段材料光學(xué)參數(shù)的精確測(cè)量
本文選題:太赫茲時(shí)域光譜技術(shù) 切入點(diǎn):光學(xué)參數(shù) 出處:《紅外與激光工程》2017年04期
【摘要】:近20年,太赫茲科學(xué)技術(shù)發(fā)展迅速,太赫茲波與物質(zhì)之間的相互作用成為研究熱點(diǎn)。理論推導(dǎo)并實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證了一種提高太赫茲波段材料折射率、吸收系數(shù)等參數(shù)測(cè)量精度的方法。以兩種厚度的高密度聚乙烯板(3.5 mm、5.0 mm)為樣品,將不等光程測(cè)量法與常規(guī)太赫茲時(shí)域光譜測(cè)量方法進(jìn)行比較,分別獲得了0.5~2.5 THz頻率范圍的高密度聚乙烯的折射率和吸收系數(shù),結(jié)果顯示兩種方法測(cè)量樣品的折射率和吸收系數(shù)有較大的差異。常規(guī)法和不等光程法得到的折射率分別為1.505和1.483。常規(guī)法在1.465 THz附近出現(xiàn)一個(gè)峰值,而不等光程法得到的吸收系數(shù)在1.166 THz和2.431 THz出現(xiàn)特征吸收峰。證明不等光程法能更加精確提取材料光學(xué)參數(shù),并可以揭示常規(guī)方法無(wú)法測(cè)得的材料特征吸收峰,為太赫茲波段精確測(cè)量材料光學(xué)參數(shù)提供了新的方法。
[Abstract]:With the rapid development of terahertz science and technology in the past 20 years, the interaction between terahertz wave and matter has become a hot topic. Two kinds of high density polyethylene (HDPE) plates with thickness of 3.5 mm ~ (5.0 mm) were used as samples. The unequal optical path measurement method was compared with the conventional terahertz time-domain spectroscopy method. The refractive index and absorption coefficient of HDPE in the frequency range of 0.5 ~ 2. 5 THz were obtained, respectively. The results show that the refractive index and absorption coefficient of the two methods are quite different. The refractive index obtained by conventional method and unequal path method are 1.505 and 1.483.The conventional method has a peak value near 1.465 THz. The absorption coefficients obtained by unequal optical path method have characteristic absorption peaks at 1.166 THz and 2.431 THz. It is proved that the unequal optical path method can extract the optical parameters of materials more accurately, and can reveal the characteristic absorption peaks of materials that can not be measured by conventional methods. It provides a new method for accurate measurement of material optical parameters in terahertz band.
【作者單位】: 山東科技大學(xué)太赫茲研究中心青島市太赫茲技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;
【基金】:國(guó)家自然科學(xué)基金(61071016)
【分類號(hào)】:O433.1
【相似文獻(xiàn)】
相關(guān)期刊論文 前10條
1 陳義紅,唐宗化,丘軍林;CO_2激光標(biāo)記中光學(xué)參數(shù)的計(jì)算[J];激光技術(shù);1994年01期
2 連潔,魏愛儉,李桂秋,王青圃,張淑芝,張曉陽(yáng);光電子材料光學(xué)參數(shù)的無(wú)損檢測(cè)[J];光學(xué)技術(shù);2001年05期
3 劉志存;王忠義;黃嵐;徐志龍;侯瑞鋒;王成;喬曉軍;;用穩(wěn)態(tài)空間分辨光譜技術(shù)檢測(cè)農(nóng)產(chǎn)品光學(xué)參數(shù)的研究及應(yīng)用[J];農(nóng)業(yè)工程學(xué)報(bào);2008年09期
4 趙會(huì)娟;閻長(zhǎng)斐;張順起;關(guān)堂兵;繆輝;賀喜;;基于微擾蒙特卡羅的薄層狀組織光學(xué)參數(shù)重構(gòu)技術(shù)[J];納米技術(shù)與精密工程;2009年03期
5 夏輝;苗彩霞;龐如意;林旭;肖元元;吳小云;;吸收介質(zhì)中微橢球體顆粒光學(xué)參數(shù)的研究[J];光散射學(xué)報(bào);2011年03期
6 劉曉林,梁培輝,張偉清,葉韌,雷建求;玻璃表面層光學(xué)參數(shù)分布的研究[J];光學(xué)學(xué)報(bào);1997年08期
7 趙安慶,李劍白,魏森泉,余寶玲,陳學(xué)網(wǎng),萬(wàn)雄,張小林;象質(zhì)評(píng)價(jià)中光學(xué)參數(shù)的最佳匹配[J];光子學(xué)報(bào);1995年06期
8 周明;廖向東;;偏振光譜測(cè)量無(wú)吸收薄膜的光學(xué)參數(shù)及其色散[J];激光與紅外;1988年08期
9 程希望;以“截長(zhǎng)補(bǔ)短”法測(cè)量自聚焦樣品光學(xué)參數(shù)[J];光子學(xué)報(bào);1994年05期
10 劉曉林,梁培輝,張偉清,唐永興,孫今人;利用P-偏振光雙面反射法測(cè)量多層膜的光學(xué)參數(shù)[J];光學(xué)學(xué)報(bào);1998年05期
相關(guān)會(huì)議論文 前2條
1 劉暢;王新柯;孫文峰;張巖;;太赫茲反射式光譜系統(tǒng)對(duì)極性物質(zhì)光學(xué)參數(shù)的提取[A];中國(guó)光學(xué)學(xué)會(huì)2011年學(xué)術(shù)大會(huì)摘要集[C];2011年
2 喻碧鶯;李暉;徐蘭青;謝樹森;;半無(wú)限大介質(zhì)漫反射時(shí)間分辨的光學(xué)參數(shù)擬合[A];中國(guó)光學(xué)學(xué)會(huì)2006年學(xué)術(shù)大會(huì)論文摘要集[C];2006年
相關(guān)碩士學(xué)位論文 前3條
1 胡佑周;生物組織光學(xué)參數(shù)測(cè)量[D];天津大學(xué);2004年
2 張順起;頻域逆蒙特卡洛光學(xué)參數(shù)反演研究和頻域系統(tǒng)數(shù)據(jù)采集[D];天津大學(xué);2008年
3 寧禹;半導(dǎo)體薄膜光學(xué)參數(shù)的分析與測(cè)定[D];國(guó)防科學(xué)技術(shù)大學(xué);2004年
,本文編號(hào):1678033
本文鏈接:http://sikaile.net/kejilunwen/wulilw/1678033.html