本文關(guān)鍵詞：基于超聲相控線陣的缺陷全聚焦三維成像

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【摘要】：在無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域,缺陷三維成像能夠還原材料內(nèi)部缺陷的空間信息,與傳統(tǒng)的二維成像相比有著明顯的優(yōu)勢(shì)。目前實(shí)現(xiàn)超聲相控陣缺陷三維成像主要依靠面陣探頭,而這些設(shè)備往往十分復(fù)雜和昂貴。通過(guò)采取適當(dāng)?shù)臄?shù)據(jù)采集方法和后處理成像算法,超聲相控線陣系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)低成本、高效率的三維超聲檢測(cè)成像。采用斷層掃描和全矩陣捕捉的方法獲取成像數(shù)據(jù);再利用全聚焦成像算法繪制高分辨率的斷層圖像;根據(jù)這些圖像在三維空間中真實(shí)的位置關(guān)系,插值還原出缺陷的三維圖像。此外,針對(duì)全聚焦成像算法計(jì)算量大的問(wèn)題,提出了一種加速算法。實(shí)驗(yàn)表明,這種檢測(cè)方法能夠快速得到目標(biāo)空間區(qū)域的高質(zhì)量三維圖像,準(zhǔn)確體現(xiàn)缺陷的空間分布情況,相比于借助B掃查圖像和C掃查圖像材料內(nèi)部缺陷的方法,具有更強(qiáng)的直觀性。
【作者單位】： 天津大學(xué)精密測(cè)試技術(shù)及儀器國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;
【關(guān)鍵詞】： 超聲相控陣 三維成像 全聚焦成像 加速算法
【基金】：國(guó)家自然科學(xué)基金(61473205)資助項(xiàng)目
【分類號(hào)】：TP391.41;TB559
【正文快照】： 1引言超聲相控陣系統(tǒng)在工業(yè)無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域已經(jīng)有幾十年的成功應(yīng)用,其主要優(yōu)勢(shì)在于靈活的波束形成,高掃查效率,很強(qiáng)的適應(yīng)性,以及良好的缺陷檢出能力[1-4]。通常,檢測(cè)人員借助超聲相控陣儀器給出的B掃查和C掃查圖像判斷材料內(nèi)部的真實(shí)情況。而這些圖像都是二維圖像,根據(jù)這些圖像

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本文編號(hào)：899945