【摘要】：隨著現(xiàn)代制造加工業(yè)的不斷發(fā)展,零件的復(fù)雜度越來(lái)越高,同時(shí)對(duì)零件的質(zhì)量檢測(cè)要求也越來(lái)越高。特別是對(duì)于一些較為特殊的物體,如強(qiáng)反射表面的光學(xué)元件、拋光模具、噴涂車身、陶瓷表面,國(guó)內(nèi)企業(yè)采用的普遍方法都是接觸式測(cè)量,成本高、測(cè)量效率低、測(cè)量精度低。而常用的非接觸式測(cè)量方法如基于光柵投影的三維測(cè)量技術(shù)因其表面的強(qiáng)反射而實(shí)施困難。本文研究了基于條紋反射法的強(qiáng)反射物體三維測(cè)量方法。本文的主要研究?jī)?nèi)容包括:(1)分析相位展開算法,重點(diǎn)研究對(duì)比了典型的時(shí)間相位展開算法,從時(shí)間效率與相位展開精度兩方面考慮,本文采用了指數(shù)時(shí)間相位展開算法。同時(shí)針對(duì)投影系統(tǒng)中正投斜采或斜投正采產(chǎn)生光柵周期不均勻的現(xiàn)象,設(shè)計(jì)了一種周期校正方法,通過(guò)投射二值條紋圖的方式,獲取其周期變化關(guān)系,然后采用反向擬合的方式生成校正光柵,再投射到參考面,即可獲得周期均勻的光柵條紋。(2)分析了現(xiàn)有測(cè)量系統(tǒng)標(biāo)定方法的缺點(diǎn),設(shè)計(jì)一種新的系統(tǒng)標(biāo)定方法應(yīng)用到本系統(tǒng)中。即將LCD顯示器視為一個(gè)逆向相機(jī),通過(guò)LCD顯示器投射橫向與縱向光柵到強(qiáng)反射物體表面,建立LCD顯示器點(diǎn)陣與CCD像素之間的映射關(guān)系,完成LCD顯示器的標(biāo)定,進(jìn)而將LCD-攝像機(jī)測(cè)量系統(tǒng)轉(zhuǎn)化為雙目視覺三維重建系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)強(qiáng)反射物體測(cè)量。
【圖文】：

西南科技大學(xué)碩士研究生學(xué)位論文 測(cè)量，但這個(gè)方法在拼接時(shí)會(huì)引入較大誤差，影響測(cè)在 CCD 相機(jī)加裝偏振片裝置，利用偏振片能夠消除鏡D 相機(jī)只接收到漫反射光線以實(shí)現(xiàn)測(cè)量，但強(qiáng)反射物體較弱，所以這種測(cè)量方式會(huì)降低測(cè)量精度。另外，國(guó)內(nèi)反射物體表面噴涂某種粉末方式，，讓被測(cè)物呈現(xiàn)出漫成強(qiáng)反射物體的測(cè)量，但噴涂粉末的不均勻性同樣會(huì)引基于條紋反射法的強(qiáng)反射物體測(cè)量方法進(jìn)行了研究，這構(gòu)簡(jiǎn)單、易于實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化、非接觸等優(yōu)點(diǎn)，對(duì)于實(shí)現(xiàn)工物體的在線檢測(cè)具有十分重要意義。

(a)觸針式表面輪廓儀 (b)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)圖 1.3 接觸式測(cè)量方法Figure 1.3 Contact measurement method1.2.2 非接觸式測(cè)量方法接觸式測(cè)量方法由于其本身的局限性無(wú)法滿足現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)的實(shí)際需求因此近年來(lái)非接觸式的測(cè)量方法得到了快速發(fā)展。非接觸式測(cè)量方法主要包括立體視覺法[8-10]、飛行時(shí)間法[11]、光學(xué)干涉法[12-16]、光學(xué)三角法[17-21]、條紋
【學(xué)位授予單位】：西南科技大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2017
【分類號(hào)】：TP391.41

【參考文獻(xiàn)】

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本文編號(hào)：2564289