本文選題：飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS) + 控制軟件�。� 參考：《質(zhì)譜學(xué)報(bào)》2017年05期

【摘要】：飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)作為一種重要的表面分析工具被廣泛應(yīng)用,本研究為其開發(fā)了一套儀器控制軟件。基于LabVIEW面向?qū)ο蠓椒ń⒘藘x器部件控制類庫,結(jié)合消息驅(qū)動(dòng)機(jī)制完成了軟件結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)。所開發(fā)的軟件能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)離子光學(xué)系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和三維樣品臺(tái)等儀器子系統(tǒng)的部件控制。應(yīng)用該軟件控制儀器進(jìn)行了鋯石樣品的TOF-SIMS實(shí)驗(yàn),完成了鋯石樣品譜圖的獲取,結(jié)果表明,該軟件能夠滿足儀器對(duì)控制軟件的要求。此外,軟件結(jié)構(gòu)具有良好的可重用性和可擴(kuò)展性,以及硬件更改對(duì)軟件影響小等優(yōu)點(diǎn),該軟件設(shè)計(jì)方法可用于類似儀器控制軟件的開發(fā)。
[Abstract]:Time of flight secondary ion mass spectrometer (TOF-SIMS) is widely used as an important surface analysis tool. A set of instrument control software has been developed in this paper. Based on the object oriented method of LabVIEW, the control class library of instrument components is established, and the software structure is designed with message driven mechanism. The developed software can control the components of ion optics system, vacuum system and three dimensional sample table. The TOF-SIMS experiment of zircon sample is carried out with the software control instrument, and the spectrum diagram of zircon sample is obtained. The results show that the software can meet the requirements of the control software. In addition, the software structure has the advantages of good reusability and extensibility, and the hardware changes have little influence on the software. The software design method can be used in the development of similar instrument control software.
【作者單位】： 吉林大學(xué)儀器科學(xué)與電氣工程學(xué)院;中國地質(zhì)科學(xué)院地質(zhì)研究所北京離子探針中心;
【基金】：國家重大科學(xué)儀器設(shè)備開發(fā)專項(xiàng)《同位素地質(zhì)學(xué)專用TOF-SIMS科學(xué)儀器》之任務(wù)七(2011YQ05006907)資助
【分類號(hào)】：O657.63;TH76;TP311.52

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本文編號(hào)：1811360