目的檢測納米二氧化硅(SiO₂)粉塵刺激的巨噬細胞微陣列芯片差異表達基因(DEGs)表達水平,篩選納米SiO₂粉塵暴露相關疾病的主導信號通路。方法從美國國立生物技術信息中心開發(fā)的公共基因芯片數據庫獲取納米SiO₂粉塵干預的RAW264.7巨噬細胞基因芯片GSE13005。以不添加SiO₂粉塵的完全培養(yǎng)基培養(yǎng)巨噬細胞作為對照組,終質量濃度為5、20、50 mg/L的納米SiO₂粉塵處理巨噬細胞作為暴露組。采用RMA Express 1.2.0軟件、R語言3.5.1對巨噬細胞基因表達數據進行分析,篩選DEGs,并對相關基因進行基因本體(GO)富集分析和京都基因與基因組百科全書(KEGG)信號通路分析。結果共篩選出67個SiO₂粉塵處理后的巨噬細胞DEGs,其中48個基因高表達,19個基因低表達。GO富集分析結果顯示,DEGs主要參與胺的反應、病毒基因組復制的調控、氨基酸轉運負調控、排卵、支氣管擴張劑反應、趨化因子活性、肌細胞分化負調控、細胞對氨基酸缺乏的反應、...

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【文章目錄】：
1 材料和方法
    1.1 數據來源
    1.2 差異表達基因(differentially expressed genes,DEGs)篩選
    1.3 DEGs功能注釋與富集
    1.4 質量控制
2 結 果
    2.1 DEGs
    2.2 DEGs功能注釋
    2.3 DEGs功能富集
3 討 論



本文編號：3822524