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基因芯片篩選非綜合征型唇腭裂差異表達(dá)基因的初步研究

發(fā)布時間:2021-11-08 02:54
  目的:利用全基因組表達(dá)譜芯片技術(shù),分析非綜合征型唇腭裂(nonsyndromic cleft lip with or without palate,NSCL/P)患兒與正常兒童基因表達(dá)的差異,篩選出非綜合征型唇腭相關(guān)基因。方法:采用離心柱法分別提取正常兒童和NSCL/P患兒腭部組織各3例的總RNA,經(jīng)純化后逆轉(zhuǎn)錄為c DNA,利用熒光染料(Cy3)標(biāo)記aa UTP,轉(zhuǎn)錄合成標(biāo)記的c RNA,經(jīng)純化及質(zhì)檢后與Agilent 4×44 k人類全基因組表達(dá)譜芯片雜交,掃描熒光信號圖像,對芯片原始數(shù)據(jù)進(jìn)行歸一化處理,利用倍數(shù)差異和t檢驗篩選差異表達(dá)基因,采用上海博豪生物在線分析系統(tǒng)進(jìn)行基因的功能注釋和關(guān)聯(lián)分析,明確差異基因的生物學(xué)功能,選取特定的差異表達(dá)基因,應(yīng)用實(shí)時熒光PCR技術(shù)驗證芯片結(jié)果的可靠性。結(jié)果:篩選出差異基因共254個,其中表達(dá)上調(diào)的有151個,表達(dá)下調(diào)的有103個。選取5條差異表達(dá)基因進(jìn)行實(shí)時熒光定量PCR驗證,ADH1C(t=5.132,P=0.000)、RDH10(t=2.960,P=0.039)、HIST1H2BD(t=4.446,P=0.001)3條基因表達(dá)下調(diào),KAT... 

【文章來源】:重慶醫(yī)科大學(xué)學(xué)報. 2018,43(08)北大核心CSCD

【文章頁數(shù)】:7 頁

【文章目錄】:
1 材料和方法
    1.1 標(biāo)本來源
    1.2 基因芯片
    1.3 實(shí)驗方法
        1.3.1 樣品總RNA提取
        1.3.2 c RNA的合成和標(biāo)記
        1.3.3 c RNA樣品片段化和芯片雜交
        1.3.4 芯片掃描
        1.3.5 實(shí)時熒光定量PCR驗證差異表達(dá)基因
    1.4 數(shù)據(jù)處理
2 結(jié)果
    2.1 總RNA質(zhì)量檢測
    2.2 基因芯片及數(shù)據(jù)分析結(jié)果
    2.4 差異基因的GO富集分析結(jié)果
    2.5 差異基因的KEGG pathway富集分析結(jié)果
    2.6 q RT-PCR驗證結(jié)果
3 討論


【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]在胚胎發(fā)育期腭突中嵴上皮細(xì)胞和腭間充質(zhì)細(xì)胞與腭裂畸形[J]. 傅豫川,黃洪章.  國外醫(yī)學(xué).口腔醫(yī)學(xué)分冊. 1996(04)



本文編號:3482862

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