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磁盤I/O Trace收集器設計及實現(xiàn)

發(fā)布時間:2023-11-15 17:10
  磁盤性能如今已經(jīng)成為計算機系統(tǒng)的主要瓶頸之一,CPU發(fā)出讀寫請求的速度和磁盤響應的速度越來越不匹配,因而對磁盤性能的評估就顯得越來越重要。而國內外流行的測試軟件往往只注重于對磁盤的幾種基本性能的測試,如:磁盤的數(shù)據(jù)傳輸率、尋道時間、磁盤性能、CPU占用率和磁盤工作噪音、工作溫度等。這樣的測試得到的數(shù)據(jù)與實際應用有較大的差別,我們需要的是在充分模擬實際應用環(huán)境下進行的測試,這樣得到的數(shù)據(jù)才能正確地評估出磁盤的性能。 通過設計磁盤I/O Trace收集器,測試在Windows操作系統(tǒng)下磁盤在實際應用中的負載,并記錄負載讀寫數(shù)據(jù)。使用WDM(Windows驅動程序模型)設計該收集器,過濾驅動截獲對磁盤的操作,得到讀寫磁盤的起始扇區(qū)以及扇區(qū)數(shù)并將這些信息保存到鏈表中。通過建立系統(tǒng)線程,不斷的從鏈表中獲取信息。最后將這些信息記錄到該收集器自身所創(chuàng)建的日志文件中去。同時設計用戶控制程序部分,實現(xiàn)對不同分區(qū)的記錄。 使用磁盤I/O Trace收集器,對不同應用環(huán)境下系統(tǒng)的實際負載情況進行記錄而得到大量真實的數(shù)據(jù)。進一步模擬實際應用環(huán)境,在磁盤測試中使用收集到的日常讀寫數(shù)據(jù)作為輸入源以模擬實際應用,最...

【文章頁數(shù)】:60 頁

【學位級別】:碩士

【文章目錄】:
摘要
ABSTRACT
1 緒論
    1.1 研究的目的和意義
    1.2 國內外研究現(xiàn)狀
    1.3 WINDOWS 驅動程序模型
    1.4 本章小結
2 WDM 下層過濾驅動
    2.1 WDM 基本原理
    2.2 WDM 驅動程序的一般框架
    2.3 磁盤下層過濾驅動程序的組成
    2.4 WDM 驅動程序調試工具
    2.5 本章小結
3 方案設計及關鍵技術
    3.1 總體設計
    3.2 系統(tǒng)初始化模塊設計
    3.3 讀寫處理模塊設計
    3.4 后臺日志模塊設計
    3.5 用戶控制模塊設計
    3.6 本章小結
4 系統(tǒng)實現(xiàn)
    4.1 讀寫處理模塊的實現(xiàn)
    4.2 后臺日志模塊的實現(xiàn)
    4.3 用戶控制模塊的實現(xiàn)
    4.4 本章小結
5 I/O TRACE 收集器測試及分析
    5.1 測試的意義
    5.2 測試環(huán)境
    5.3 功能測試
    5.4 性能測試
    5.5 本章小結
6 總結
    6.1 總結
    6.2 未來的工作
致謝
參考文獻



本文編號:3864150

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