磁盤I/O Trace收集器設(shè)計及實現(xiàn)
發(fā)布時間:2023-11-15 17:10
磁盤性能如今已經(jīng)成為計算機系統(tǒng)的主要瓶頸之一,CPU發(fā)出讀寫請求的速度和磁盤響應(yīng)的速度越來越不匹配,因而對磁盤性能的評估就顯得越來越重要。而國內(nèi)外流行的測試軟件往往只注重于對磁盤的幾種基本性能的測試,如:磁盤的數(shù)據(jù)傳輸率、尋道時間、磁盤性能、CPU占用率和磁盤工作噪音、工作溫度等。這樣的測試得到的數(shù)據(jù)與實際應(yīng)用有較大的差別,我們需要的是在充分模擬實際應(yīng)用環(huán)境下進行的測試,這樣得到的數(shù)據(jù)才能正確地評估出磁盤的性能。 通過設(shè)計磁盤I/O Trace收集器,測試在Windows操作系統(tǒng)下磁盤在實際應(yīng)用中的負載,并記錄負載讀寫數(shù)據(jù)。使用WDM(Windows驅(qū)動程序模型)設(shè)計該收集器,過濾驅(qū)動截獲對磁盤的操作,得到讀寫磁盤的起始扇區(qū)以及扇區(qū)數(shù)并將這些信息保存到鏈表中。通過建立系統(tǒng)線程,不斷的從鏈表中獲取信息。最后將這些信息記錄到該收集器自身所創(chuàng)建的日志文件中去。同時設(shè)計用戶控制程序部分,實現(xiàn)對不同分區(qū)的記錄。 使用磁盤I/O Trace收集器,對不同應(yīng)用環(huán)境下系統(tǒng)的實際負載情況進行記錄而得到大量真實的數(shù)據(jù)。進一步模擬實際應(yīng)用環(huán)境,在磁盤測試中使用收集到的日常讀寫數(shù)據(jù)作為輸入源以模擬實際應(yīng)用,最...
【文章頁數(shù)】:60 頁
【學(xué)位級別】:碩士
【文章目錄】:
摘要
ABSTRACT
1 緒論
1.1 研究的目的和意義
1.2 國內(nèi)外研究現(xiàn)狀
1.3 WINDOWS 驅(qū)動程序模型
1.4 本章小結(jié)
2 WDM 下層過濾驅(qū)動
2.1 WDM 基本原理
2.2 WDM 驅(qū)動程序的一般框架
2.3 磁盤下層過濾驅(qū)動程序的組成
2.4 WDM 驅(qū)動程序調(diào)試工具
2.5 本章小結(jié)
3 方案設(shè)計及關(guān)鍵技術(shù)
3.1 總體設(shè)計
3.2 系統(tǒng)初始化模塊設(shè)計
3.3 讀寫處理模塊設(shè)計
3.4 后臺日志模塊設(shè)計
3.5 用戶控制模塊設(shè)計
3.6 本章小結(jié)
4 系統(tǒng)實現(xiàn)
4.1 讀寫處理模塊的實現(xiàn)
4.2 后臺日志模塊的實現(xiàn)
4.3 用戶控制模塊的實現(xiàn)
4.4 本章小結(jié)
5 I/O TRACE 收集器測試及分析
5.1 測試的意義
5.2 測試環(huán)境
5.3 功能測試
5.4 性能測試
5.5 本章小結(jié)
6 總結(jié)
6.1 總結(jié)
6.2 未來的工作
致謝
參考文獻
本文編號:3864150
【文章頁數(shù)】:60 頁
【學(xué)位級別】:碩士
【文章目錄】:
摘要
ABSTRACT
1 緒論
1.1 研究的目的和意義
1.2 國內(nèi)外研究現(xiàn)狀
1.3 WINDOWS 驅(qū)動程序模型
1.4 本章小結(jié)
2 WDM 下層過濾驅(qū)動
2.1 WDM 基本原理
2.2 WDM 驅(qū)動程序的一般框架
2.3 磁盤下層過濾驅(qū)動程序的組成
2.4 WDM 驅(qū)動程序調(diào)試工具
2.5 本章小結(jié)
3 方案設(shè)計及關(guān)鍵技術(shù)
3.1 總體設(shè)計
3.2 系統(tǒng)初始化模塊設(shè)計
3.3 讀寫處理模塊設(shè)計
3.4 后臺日志模塊設(shè)計
3.5 用戶控制模塊設(shè)計
3.6 本章小結(jié)
4 系統(tǒng)實現(xiàn)
4.1 讀寫處理模塊的實現(xiàn)
4.2 后臺日志模塊的實現(xiàn)
4.3 用戶控制模塊的實現(xiàn)
4.4 本章小結(jié)
5 I/O TRACE 收集器測試及分析
5.1 測試的意義
5.2 測試環(huán)境
5.3 功能測試
5.4 性能測試
5.5 本章小結(jié)
6 總結(jié)
6.1 總結(jié)
6.2 未來的工作
致謝
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本文編號:3864150
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