Mg-Fe類水滑石膜的制備及其在模擬體液中的耐蝕性研究
發(fā)布時間:2021-08-26 22:47
輕質(zhì)金屬材料鎂及鎂合金具有比強度高、減震性好、可回收等優(yōu)點,還具有良好的生物相容性,被用于航空航天、汽車、電子、生物醫(yī)學等領(lǐng)域。但與其他各種金屬相比,其標準電極電位很負,造成鎂及鎂合金容易腐蝕,在人體環(huán)境中,鎂合金的過快腐蝕始終是制約其臨床應用的一個關(guān)鍵問題。因此,鎂合金的腐蝕與防護研究對鎂合金生物材料的應用是至關(guān)重要的。類水滑石(Layered Double Hydroxide,LDHs)是具有特殊結(jié)構(gòu)和功能的雙金屬層狀化合物。鎂合金表面原位生長類水滑石膜是一種新型的防護手段,達到保護鎂合金耐腐蝕的目的。本文尋找合適的鐵三價陽離子的獲得方式,拓展原位生長法制備的水滑石材料種類,將Mg-Fe類水滑石的生物相容性及可降解性有機結(jié)合,用于鎂合金在生物環(huán)境中的腐蝕防護。通過X射線衍射(XRD)圖普以及EDS元素分析能譜圖分析不同工藝條件下制得的膜層的成分,利用掃描電子顯微鏡(SEM)觀察樣品表面形貌,最后利用電化學工作站測得樣品的極化曲線,優(yōu)化Mg-Fe類水滑石薄膜的制備工藝及研究在37℃的Hank’s溶液中膜層的耐腐蝕性能。通過Mg-Al水滑石膜在鎂合金的制備經(jīng)驗及前期的實驗摸索,成功將鐵...
【文章來源】:西華大學四川省
【文章頁數(shù)】:57 頁
【學位級別】:碩士
【部分圖文】:
LDHs結(jié)構(gòu)示意圖
Mg-Fe類水滑石薄膜的制備及其在模擬體液中的耐蝕性研究18圖2.4BrukerD2型X射線衍射儀Fig.2.4BrukerD2X-raydiffractometer2.5.2掃描電鏡觀察及能譜分析采用FEI公司Quanta250FEG型環(huán)境掃描電子顯微鏡(EnvironmentalScanningElectronMicroscope,ESEM)對試樣的組織結(jié)構(gòu)進行觀察,加速電壓200V~30kV。膜層制備完成后,將樣品切割成小塊進行測試。掃描電子顯微鏡所配置的EDS(EnergyDispersiveSpectroscopy)電子探針分析系統(tǒng)可用來分析樣品的成分,設備如圖2.5所示。圖2.5Quanta250FEG型環(huán)境掃描電子顯微鏡Fig.2.5Quanta250FEGenvironmentalscanningelectronmicroscope
Mg-Fe類水滑石薄膜的制備及其在模擬體液中的耐蝕性研究18圖2.4BrukerD2型X射線衍射儀Fig.2.4BrukerD2X-raydiffractometer2.5.2掃描電鏡觀察及能譜分析采用FEI公司Quanta250FEG型環(huán)境掃描電子顯微鏡(EnvironmentalScanningElectronMicroscope,ESEM)對試樣的組織結(jié)構(gòu)進行觀察,加速電壓200V~30kV。膜層制備完成后,將樣品切割成小塊進行測試。掃描電子顯微鏡所配置的EDS(EnergyDispersiveSpectroscopy)電子探針分析系統(tǒng)可用來分析樣品的成分,設備如圖2.5所示。圖2.5Quanta250FEG型環(huán)境掃描電子顯微鏡Fig.2.5Quanta250FEGenvironmentalscanningelectronmicroscope
本文編號:3365110
【文章來源】:西華大學四川省
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【學位級別】:碩士
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LDHs結(jié)構(gòu)示意圖
Mg-Fe類水滑石薄膜的制備及其在模擬體液中的耐蝕性研究18圖2.4BrukerD2型X射線衍射儀Fig.2.4BrukerD2X-raydiffractometer2.5.2掃描電鏡觀察及能譜分析采用FEI公司Quanta250FEG型環(huán)境掃描電子顯微鏡(EnvironmentalScanningElectronMicroscope,ESEM)對試樣的組織結(jié)構(gòu)進行觀察,加速電壓200V~30kV。膜層制備完成后,將樣品切割成小塊進行測試。掃描電子顯微鏡所配置的EDS(EnergyDispersiveSpectroscopy)電子探針分析系統(tǒng)可用來分析樣品的成分,設備如圖2.5所示。圖2.5Quanta250FEG型環(huán)境掃描電子顯微鏡Fig.2.5Quanta250FEGenvironmentalscanningelectronmicroscope
Mg-Fe類水滑石薄膜的制備及其在模擬體液中的耐蝕性研究18圖2.4BrukerD2型X射線衍射儀Fig.2.4BrukerD2X-raydiffractometer2.5.2掃描電鏡觀察及能譜分析采用FEI公司Quanta250FEG型環(huán)境掃描電子顯微鏡(EnvironmentalScanningElectronMicroscope,ESEM)對試樣的組織結(jié)構(gòu)進行觀察,加速電壓200V~30kV。膜層制備完成后,將樣品切割成小塊進行測試。掃描電子顯微鏡所配置的EDS(EnergyDispersiveSpectroscopy)電子探針分析系統(tǒng)可用來分析樣品的成分,設備如圖2.5所示。圖2.5Quanta250FEG型環(huán)境掃描電子顯微鏡Fig.2.5Quanta250FEGenvironmentalscanningelectronmicroscope
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