用Monte20Carlo程序（MCNP）模擬研究不同摻雜組分與不同摻雜質(zhì)量分數(shù)合金對低能X射線譜的屏蔽效能.模擬結(jié)果表明:合金的屏蔽效能與摻雜組分原子序數(shù)呈正相關(guān),與摻雜質(zhì)量分數(shù)呈正相關(guān)（ΔZ>0）或負相關(guān)（ΔZ<0）;ΔZ絕對值越大,合金的屏蔽效能變化越大,且變化幅度與摻雜質(zhì)量分數(shù)呈正相關(guān);20TaW合金的屏蔽效能最好,摻雜質(zhì)量分數(shù)的變化對其屏蔽性能影響最小;在低能能譜范圍內(nèi),不同能量X射線透射率的MCNP模擬結(jié)果與實驗結(jié)果基本一致. 

【文章來源】：吉林大學(xué)學(xué)報(理學(xué)版). 2020,58(04)北大核心

【文章頁數(shù)】：4 頁

【文章目錄】：
1 方法與模型
2 模擬結(jié)果
    2.1 不同摻雜質(zhì)量分數(shù)下不同合金的屏蔽效能
    2.2 摻雜組分與基體材料原子序數(shù)差值對合金屏蔽效能的影響
3 模擬結(jié)果驗證


【參考文獻】：
期刊論文
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本文編號：3177280