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板形尺度精度控制_戴斌飛, 導(dǎo)師:余景池,面形精度評價方法研究

發(fā)布時間:2016-12-06 08:23

  本文關(guān)鍵詞:面形精度評價方法研究,,由筆耕文化傳播整理發(fā)布。


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文獻(xiàn)名稱:面形精度評價方法研究

    前言:對光學(xué)元件進(jìn)行面形精度的分析,以評價它是否滿足使用要求,這是光學(xué)面形檢測的重要組成部分。光學(xué)元件根據(jù)它的不同用途,需要選擇合理的評價指標(biāo)對其面形誤差進(jìn)行分析。傳統(tǒng)的光學(xué)系統(tǒng)的面形評價指標(biāo)主要有峰谷值、均方根值以及中心點(diǎn)亮度等。本文深入研究了這些面形評價指標(biāo)及它們之間的聯(lián)系。對峰谷值和均方根值之間存在的比例關(guān)系在理論上和統(tǒng)計(jì)上進(jìn)行了研究,得到:拋光后的光學(xué)表面,由干涉儀測得的面形數(shù)據(jù)經(jīng)澤尼克多項(xiàng)式擬合后,其峰谷值與均方根值大約是3~5 倍的關(guān)系,而由位相法得到的實(shí)測值經(jīng)統(tǒng)計(jì)分析發(fā)現(xiàn)兩者更多的表現(xiàn)出7~10 倍的關(guān)系。利用計(jì)算機(jī)優(yōu)化方法得到了中心點(diǎn)亮度和均方根值的極限曲線,并模擬出了同一均方根值對應(yīng)的中心點(diǎn)亮度為最小和最大兩種極限情況下及極限情況之間的面形,通過對它們面形特征的比較分析,得到:均方根誤差一定的表面,其中心點(diǎn)亮度位于極限曲線之間,它的高低將由面形誤差的空間頻率分布決定。若面形誤差的中高頻分量較高,它的中心點(diǎn)亮度將較低。對用于評價中頻段面形誤差的功率譜密度方法進(jìn)行了研究,給出了一維功率譜密度和二維功率譜密度的計(jì)算方法,提出了用旋轉(zhuǎn)二維功率譜密度或波前數(shù)據(jù)的方法得到圓形孔徑光學(xué)元件任一截...
    The precision analysis of optical surface, which is to determine whether it will satisfy user’s demands, is the important aspect of optical surface testing. It needs to select appropriate specifications to assess different optical elements for their different application. It is generally to use PV, RMS and Strehl ratio to assess surface errors, the inherent relationships among these conventional optics specifications are discussed in this paper. The proportionality relating PV and RMS is studied theoret...

文獻(xiàn)名稱 面形精度評價方法研究

Article Name
英文(英語)翻譯 Study on Methods for Assessing Precision of Optical Surface;

作者 戴斌飛; 導(dǎo)師:余景池;

Author

作者單位
Author Agencies 蘇州大學(xué);

文獻(xiàn)出處
Article From 中國科學(xué)院上海冶金研究所; 材料物理與化學(xué)(專業(yè)) 博士論文 2000年度

關(guān)鍵詞 光學(xué)檢測; 面形評價; 中心點(diǎn)亮度; 功率譜密度;

Keywords optical testing;assessment methods;Strehl ratio;PSD;

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本文編號:206038

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