針對(duì)可換負(fù)載式光電經(jīng)緯儀更換成像探測(cè)組件后的光軸平行性檢測(cè),提出了一種靶場(chǎng)適用的光電經(jīng)緯儀光軸平行性檢測(cè)方法。該方法在正倒鏡狀態(tài)下拍攝方位標(biāo),結(jié)合經(jīng)緯儀角度測(cè)量結(jié)果和方位標(biāo)距離測(cè)量結(jié)果計(jì)算方位標(biāo)十字絲中心在成像坐標(biāo)系下的坐標(biāo),通過(guò)基于坐標(biāo)變換推導(dǎo)的光軸平行性檢測(cè)公式計(jì)算成像光軸相對(duì)理想照準(zhǔn)光軸的偏差,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)光軸平行性的檢測(cè)。對(duì)該方法的檢測(cè)精度進(jìn)行了分析,結(jié)果表明成像系統(tǒng)投影中心坐標(biāo)測(cè)量誤差和距離測(cè)量誤差對(duì)光軸平行性檢測(cè)誤差隨著方位標(biāo)距離增大而減小,當(dāng)方位標(biāo)距離為1 km、坐標(biāo)測(cè)量誤差為1 cm時(shí),坐標(biāo)測(cè)量誤差和距離測(cè)量誤差對(duì)平行性檢測(cè)精度的影響約為0.01 mrad;當(dāng)方位標(biāo)距離足夠遠(yuǎn)時(shí),平行性檢測(cè)精度與成像系統(tǒng)的角度測(cè)量誤差相當(dāng),能夠滿足靶場(chǎng)使用需求。 

【文章來(lái)源】：光學(xué)精密工程. 2020,28(08)北大核心EICSCD

【文章頁(yè)數(shù)】：8 頁(yè)

【部分圖文】：

經(jīng)緯儀成像光學(xué)系統(tǒng)示意圖

在正鏡狀態(tài)下,旋轉(zhuǎn)經(jīng)緯儀對(duì)準(zhǔn)方位標(biāo),可見(jiàn)光測(cè)量、紅外測(cè)量、紅外捕獲分別拍攝圖像如圖2(a)、2(c)和2(e)所示。將經(jīng)緯儀置于倒鏡狀態(tài)下,可見(jiàn)光測(cè)量、紅外測(cè)量、紅外捕獲分別拍攝圖像如圖2(b),2(d)和2(f)所示。判讀大靶板中間十字絲的中心相對(duì)視場(chǎng)中心的成像角度。其中正鏡狀態(tài)下可測(cè)得:可見(jiàn)光圖像的成像角度為(-44.7″,-425.3″),紅外測(cè)量圖像的成像角度為(21.5″,-257.8″),紅外捕獲圖像的成像角度為(-134.1″,-309.4″)。在倒鏡狀態(tài)下可測(cè)得可見(jiàn)光圖像的成像角度為(-53.0″, 204.6″),紅外測(cè)量圖像的成像角度為(1.8″, 350.9″),紅外捕獲圖像的成像角度為(-183.8″,-319.7″)。

【參考文獻(xiàn)】：
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