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復(fù)雜管道條件下帶包覆層鐵磁性管道腐蝕脈沖渦流檢測

發(fā)布時(shí)間:2017-11-01 10:39

  本文關(guān)鍵詞:復(fù)雜管道條件下帶包覆層鐵磁性管道腐蝕脈沖渦流檢測


  更多相關(guān)文章: 脈沖渦流 ANSYS U形傳感器 干擾 抗干擾


【摘要】:帶包覆層鐵磁性管道的使用已經(jīng)很廣泛,當(dāng)使用時(shí)間過長,鐵磁性管道的內(nèi)外壁就會(huì)發(fā)生腐蝕。脈沖渦流檢測技術(shù)可以不拆除包覆層,進(jìn)行快速掃查,高效的完成對帶包覆層鐵磁性管道的在役檢測。在實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行檢測,都是較理想的檢測環(huán)境,檢測管的周圍沒有其他鐵磁性管道。但是在實(shí)際檢測中,周圍會(huì)存在很多對檢測有干擾的管道,還有人為操作或者包覆層安裝的誤差引起的檢測結(jié)果不準(zhǔn)確,這些問題都是有必要去解決的。本論文從有限元仿真和實(shí)驗(yàn)兩個(gè)方面分析了干擾管的不同位置對檢測的影響,利用ANSYS軟件進(jìn)行仿真分析,觀察仿真結(jié)果可知,當(dāng)檢測管周圍0.6m內(nèi)有干擾管時(shí),就會(huì)對檢測產(chǎn)生影響,使感應(yīng)電壓衰減變的緩慢。再通過實(shí)驗(yàn)的驗(yàn)證,結(jié)果與仿真一致。分析了會(huì)對檢測產(chǎn)生影響的三種情況:平行干擾管、T型干擾管和交叉干擾管。分別從感應(yīng)電壓衰減曲線、檢測結(jié)果的剖面圖和檢測的靈敏度三個(gè)方面來分析干擾。當(dāng)在平行管面上進(jìn)行檢測時(shí),平行管不會(huì)對檢測產(chǎn)生影響;當(dāng)在平行管面內(nèi)檢測時(shí),只要雙管的間距小于0.6m時(shí),感應(yīng)電壓會(huì)衰減變緩慢,檢測靈敏度降低;T型管與檢測管垂直距離大于0.5m時(shí),不會(huì)對檢測產(chǎn)生影響;交叉管會(huì)使檢測結(jié)果的剖面圖變化,受影響部分呈上升或者下降的趨勢。針對這些干擾因素,提出了兩種解決問題的方法:增加磁屏蔽罩和制作U型探頭。分別在平行干擾管和交叉干擾管兩種情況中進(jìn)行檢測,驗(yàn)證兩種方法的可行性。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,增加磁屏蔽罩只能提高感應(yīng)電壓值,并沒有到達(dá)預(yù)期的目的。U型探頭的抗干擾能力較強(qiáng),抑制剖面圖的變化。由于包覆層的厚度不一和人為操作的不恰當(dāng),會(huì)引起的檢測結(jié)果的不準(zhǔn)確,會(huì)造成提離誤差,會(huì)將提離處誤判為缺陷處。本論文提出了一種可以區(qū)別缺陷、提離和缺陷處有提離的方法,進(jìn)過實(shí)驗(yàn)的驗(yàn)證,此方法能很好的適用于外壁缺陷、提離和缺陷上加提離的區(qū)分,而對于內(nèi)壁缺陷來說,只能區(qū)分出來單獨(dú)過缺陷的點(diǎn),提離和缺陷加提離還不能很好的區(qū)分。
【關(guān)鍵詞】:脈沖渦流 ANSYS U形傳感器 干擾 抗干擾
【學(xué)位授予單位】:南昌航空大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2016
【分類號(hào)】:U178
【目錄】:
  • 摘要4-5
  • Abstract5-10
  • 第一章 緒論10-15
  • 1.1 課題研究的背景與意義10-12
  • 1.2 國內(nèi)外研究現(xiàn)狀12-13
  • 1.2.1 國外研究現(xiàn)狀12-13
  • 1.2.2 國內(nèi)研究現(xiàn)狀13
  • 1.3 課題研究內(nèi)容13-14
  • 1.4 本章小結(jié)14-15
  • 第二章 脈沖渦流檢測理論分析15-22
  • 2.1 渦流檢測原理15-17
  • 2.1.1 傳統(tǒng)渦流檢測原理15-16
  • 2.1.2 脈沖渦流檢測原理16-17
  • 2.2 脈沖渦流滲透深度17-19
  • 2.3 電磁場理論基礎(chǔ)19-20
  • 2.4 檢測線圈上瞬態(tài)感應(yīng)電壓的計(jì)算20-21
  • 2.5 本章小結(jié)21-22
  • 第三章 周圍管道對檢測的影響22-37
  • 3.1 ANSYS介紹22
  • 3.2 實(shí)驗(yàn)檢測系統(tǒng)平臺(tái)和檢測試件22-23
  • 3.2.1 實(shí)驗(yàn)檢測系統(tǒng)平臺(tái)22-23
  • 3.2.2 檢測試件23
  • 3.3 平行管道對檢測衰減曲線的影響23-27
  • 3.3.1 有限元仿真模型建立23-24
  • 3.3.2 仿真結(jié)果及分析24-25
  • 3.3.3 實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證25-26
  • 3.3.4 實(shí)驗(yàn)結(jié)果分析26-27
  • 3.3.5 小結(jié)27
  • 3.4 平行管道對檢測靈敏度的影響27-30
  • 3.4.1 檢測線圈在平行管道面上檢測27-28
  • 3.4.2 檢測線圈在平行管道面內(nèi)檢測28-30
  • 3.4.3 小結(jié)30
  • 3.5 T型干擾管對脈沖渦流檢測的影響30-34
  • 3.5.1 實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證30-31
  • 3.5.2 實(shí)驗(yàn)結(jié)果分析31-34
  • 3.5.3 小結(jié)34
  • 3.6 交叉管道對檢測的影響34-36
  • 3.6.1 實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證34-35
  • 3.6.2 實(shí)驗(yàn)結(jié)果分析35-36
  • 3.6.3 小結(jié)36
  • 3.7 本章總結(jié)36-37
  • 第四章 如何減小周圍管道對檢測的影響37-48
  • 4.1 兩種檢測線圈的改進(jìn)方法37-38
  • 4.2 減小平行管道對檢測衰減曲線的影響38-41
  • 4.2.1 增加屏蔽罩來減小影響38-39
  • 4.2.2 使用U型線圈來減小影響39-40
  • 4.2.3 小結(jié)40-41
  • 4.3 減小平行管道對檢測靈敏度的影響41-43
  • 4.3.1 增加屏蔽罩來減小影響41-42
  • 4.3.2 使用U型線圈來減小影響42-43
  • 4.3.3 小結(jié)43
  • 4.4 減小交叉管道對檢測的影響43-46
  • 4.4.1 增加屏蔽罩來減小影響43-44
  • 4.4.2 使用U型線圈來減小影響44-46
  • 4.4.3 小結(jié)46
  • 4.5 本章總結(jié)46-48
  • 第五章 缺陷與提離的區(qū)分48-57
  • 5.1 提離誤差產(chǎn)生的原因及類別48
  • 5.2 外壁缺陷與提離的區(qū)分48-52
  • 5.2.1 檢測平臺(tái)和實(shí)驗(yàn)試件48-49
  • 5.2.2 實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證49
  • 5.2.3 實(shí)驗(yàn)結(jié)果分析49-51
  • 5.2.4 判斷外壁缺陷與提離的方法總結(jié)51-52
  • 5.3 內(nèi)壁缺陷與提離的區(qū)分52-56
  • 5.3.1 實(shí)驗(yàn)試件52-53
  • 5.3.2 實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證53
  • 5.3.3 實(shí)驗(yàn)結(jié)果分析53-55
  • 5.3.4 判斷內(nèi)壁缺陷與提離的方法總結(jié)55-56
  • 5.4 本章總結(jié)56-57
  • 第六章 論文總結(jié)與展望57-59
  • 6.1 論文總結(jié)57-58
  • 6.2 展望58-59
  • 參考文獻(xiàn)59-61
  • 攻讀碩士期間發(fā)表過的論文61-62
  • 致謝62-63

【相似文獻(xiàn)】

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10 劉開偉;BAMO-THF共聚醚包覆改性HMX及其性能研究[D];南京理工大學(xué);2013年

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本文編號(hào):1126477

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