詳細分析了國產(chǎn)氯堿離子膜在電解運行過程中可能出現(xiàn)性能衰減的原因,包括:膜表面的機械損傷,高溫環(huán)境中電解液的影響,電解運行過程對親水涂層的影響,鹽水中雜質(zhì)沉積的影響。并利用相關(guān)儀器進行了定性、定量的分析驗證。提出減緩離子膜性能衰減的方案。 

【文章來源】：氯堿工業(yè). 2020,56(09)

【文章頁數(shù)】：6 頁

【部分圖文】：

0 舊膜水下氣泡接觸角示意圖

運行過程中的氯堿離子膜一旦有了漏點或孔洞，將導致電解槽內(nèi)OH-大量返遷，電流效率下降，陰陽極短路、電極擊穿，槽內(nèi)電解液混合，甚至引發(fā)更大的危險。圖2 膜受到機械磨損導致針孔的光學顯微鏡圖

膜受到機械磨損導致針孔的光學顯微鏡圖

【參考文獻】：
期刊論文
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本文編號：3314541