發(fā)布時間：2017-08-24 13:06

  本文關鍵詞：二維熒光光譜提取強干擾下的弱信號的模擬研究

  更多相關文章： 熒光分析 二維異步相關光譜 噪聲

【摘要】：當用熒光光譜分析含A和B兩成分樣品時,如A的含量遠高于B且A和B的熒光發(fā)射峰高度重疊,由于A的干擾和噪聲的影響,B的信號難以被檢出。通過數(shù)學分析和計算機模擬,發(fā)現(xiàn)通過合理選擇實驗條件,B的信號有可能在以改變激發(fā)波長為外擾的二維異步熒光譜上以交叉峰的形式被觀測到。
【作者單位】： 北京分子科學國家實驗室稀土材料化學及應用國家重點實驗室北京大學化學與分子工程學院;
【關鍵詞】： 熒光分析 二維異步相關光譜 噪聲
【分類號】：O657.3
【正文快照】： 熒光光譜方法廣泛應用于對物理、化學、生物醫(yī)學的復雜樣品的分析研究。在工作中人們常遇到下述情況:樣品中含A和B兩成分,A的含量遠高于B且A和B的熒光發(fā)射峰高度重疊。在熒光發(fā)射譜上B的信號會被A的信號覆蓋而無法檢出。在我們的前期工作中,用可變激發(fā)波長為外擾,構建二維異步，

本文編號：731445