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單一立方相致密ReO 3 塊材的燒結(jié)制備

發(fā)布時間:2021-12-17 07:13
  采用直接燒結(jié)的方式將ReO3粉末壓片制備成塊材,并結(jié)合X射線衍射(XRD)、電輸運、掃描電子顯微鏡(SEM)等表征手段優(yōu)化了最佳燒結(jié)條件,獲得了純立方相、結(jié)晶均勻、致密的ReO3片狀材料。初步的生長實驗表明,該方法制備的材料可以用作脈沖激光沉積的靶材,為生長高質(zhì)量ReO3薄膜的工作打下了基礎(chǔ)。 

【文章來源】:稀有金屬材料與工程. 2020,49(01)北大核心EISCICSCD

【文章頁數(shù)】:6 頁

【部分圖文】:

單一立方相致密ReO 3 塊材的燒結(jié)制備


ReO3粉末壓片燒結(jié)之前與之后的照片

XRD圖譜,燒結(jié)溫度,XRD圖譜,樣品


燒結(jié)前以及不同燒結(jié)溫度燒結(jié)24 h的樣品XRD圖譜

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圖2 燒結(jié)前以及不同燒結(jié)溫度燒結(jié)24 h的樣品XRD圖譜為了得到純立方相、結(jié)晶均勻的ReO3塊材,作者進(jìn)一步固定燒結(jié)溫度在300℃同時延長燒結(jié)時間,或固定燒結(jié)溫度在400℃而縮短燒結(jié)時間,期望可以在保證獲得單相ReO3的同時,最大限度地提高結(jié)晶的均勻性。燒結(jié)樣品的XRD結(jié)果如圖5所示。與ReO3標(biāo)準(zhǔn)PDF卡片相對照可知,這些樣品均為單一立方相的ReO3。在300℃燒結(jié)樣品的電阻率隨著燒結(jié)時間的增加而逐漸降低,其中燒結(jié)48 h的樣品在100~300K的范圍里與單晶ReO3的電阻率在同1個數(shù)量級(圖4),因此可以推斷其晶粒之間具有很好的連通性,具有三維塊體的特性。進(jìn)一步結(jié)合SEM的形貌觀測(圖3a、3c、6a、6b)對晶粒尺寸的平均值和晶粒尺寸的方差進(jìn)行統(tǒng)計(如圖7),可以發(fā)現(xiàn)在300℃的燒結(jié)溫度下隨著燒結(jié)時間的延長,樣品的晶粒形狀趨向于規(guī)則,晶粒尺寸趨向于細(xì)小、均勻,這與電輸運的測量結(jié)果相一致。在400℃條件下隨著燒結(jié)時間的延長(6,12,24 h),也可以觀察到樣品電阻率逐漸降低,對應(yīng)于晶化程度的提高。但其電阻率數(shù)值還是高于在300℃、48 h條件下燒結(jié)的樣品,尤其在低溫區(qū)顯著比單晶ReO3的高(圖4)。這很可能是由于在較高溫度(400℃)的燒結(jié)下,隨著燒結(jié)時間的延長,樣品在晶化形成ReO3相的同時,伴隨著少量ReO2相的形成。盡管在400℃、6/12 h燒結(jié)樣品的XRD譜中未觀測到除立方ReO3之外的雜相,但是電輸運測量結(jié)果給出了更靈敏的燒結(jié)優(yōu)化依據(jù),即較低溫度(300℃)、較長時間(48 h)的燒結(jié)最有利于塊材質(zhì)量的提高。


本文編號:3539631

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