掃描電化學(xué)成像作為電化學(xué)的一種研究工具,已經(jīng)應(yīng)用到電化學(xué)的各個研究方向,并且應(yīng)用到其它領(lǐng)域之中。而在掃描電化學(xué)成像的過程中,拖尾現(xiàn)象的存在使得低分辨率的掃描電化學(xué)成像不僅在成像邊緣區(qū)域出現(xiàn)大量鋸齒狀干擾,還使得成像整體輪廓模糊不清,這對電化學(xué)分析是極其不利的。提高掃描成像的精度可以有效地減少拖尾現(xiàn)象對電化學(xué)成像的影響,但與此同時也造成了大量的時間消耗和成本消耗,給相關(guān)電化學(xué)研究帶來了很大的實驗約束。因此,本文旨在運用一種數(shù)據(jù)處理技術(shù),改善低分辨率掃描電化學(xué)成像中的拖尾現(xiàn)象,在節(jié)約時間與成本的前提下,進(jìn)一步得到效果更佳的掃描電化學(xué)成像。于是,本文首先針對掃描電化學(xué)成像拖尾現(xiàn)象的成因進(jìn)行分析,而后就分析結(jié)果提出了一種基于反卷積的掃描電化學(xué)成像去拖尾算法。該算法以拖尾現(xiàn)象的成因為起點,分析并構(gòu)建問題模型,然后從該問題模型中找到解決拖尾現(xiàn)象的辦法。本文運用SECM-A與循環(huán)伏安法對8組電化學(xué)實驗進(jìn)行數(shù)據(jù)采集,形成可處理的數(shù)據(jù)集合。然后對數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,推測掃描電化學(xué)成像拖尾現(xiàn)象的非化學(xué)成因是采樣棒的擾動造成的電荷卷積現(xiàn)象。隨后利用本文提出的反卷積去拖尾算法對收集的8組數(shù)據(jù)進(jìn)行去拖尾處理,并完成電... 

【文章來源】：東北師范大學(xué)吉林省 211工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：39 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【部分圖文】：

掃描電化學(xué)成像中的拖尾現(xiàn)象

第三章 反卷積去拖尾算法，反卷積方法經(jīng)常被使用在神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)、信道均衡、圖像修復(fù)與復(fù)原等中傳統(tǒng)的方法相比，反卷積方法為解決現(xiàn)實生活問題提供了與眾不同領(lǐng)域中取得了非比尋常的進(jìn)展。該方法采用設(shè)定的模型敘述并構(gòu)建問現(xiàn)實問題變得淺顯易懂，淺顯的問題細(xì)節(jié)化。本章將主要介紹掃描電，以及對其成因的分析與驗證，還有對基于反卷積去拖尾算法的詳細(xì)現(xiàn)象化學(xué)成像拖尾現(xiàn)象，是在掃描電化學(xué)成像時經(jīng)常會遇到的問題，當(dāng)掃較低時該現(xiàn)象尤為明顯。圖 3-1、圖 3-2、圖 3-3、圖 3-4 為同一實驗描電化學(xué)成像圖。

圖 3-2 數(shù)據(jù) 2-secm 的掃描電化學(xué)成像圖 為數(shù)據(jù) 2-secm 的掃描電化學(xué)成像圖，其分辨率為 250*250，由圖可以體輪廓依然清晰可見，顏色改變之處過渡均勻但有肉眼可見的微小突現(xiàn)象，實驗細(xì)節(jié)處保留較完整，噪點少。

【參考文獻(xiàn)】：
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