發(fā)布時間：2020-01-28 00:24

【摘要】：高錳酸鉀與鹽酸在100℃回流反應(yīng)制備層狀水鈉錳礦,改變鹽酸用量調(diào)控水鈉錳礦的錳平均氧化度(AOS),即Mn(Ⅳ)與Mn(Ⅲ)的相對含量。采用X射線衍射、掃描電鏡、X射線吸收光譜等表征產(chǎn)物晶體結(jié)構(gòu)、微觀形貌、價態(tài)組成和鍵長等,考察錳平均氧化度對水鈉錳礦理化性質(zhì)與電容性能的影響。結(jié)果表明,隨著鹽酸用量增加,三維花球狀水鈉錳礦AOS降低,氧化度可調(diào)控為4.02,3.88和3.72,且組成花球的片層厚度有降低趨勢,比表面積隨之增大,層間K+和結(jié)晶水含量降低;水鈉錳礦比電容量隨氧化度升高而增大,其充放電過程中晶體內(nèi)層間離子擴散速率顯著影響電容性能。氧化度為4.02的水鈉錳礦電化學(xué)性能最佳,比容量最大為232F/g,200周循環(huán)保持為222F/g,容量保持率為95.7%。

【相似文獻】

相關(guān)期刊論文 前1條

1 鄭昌戈，姚笑紅，何艷輝，鄭延華;雙醛淀粉的合成及其氧化度的測定[J];湘潭大學(xué)自然科學(xué)學(xué)報;1996年01期

，

本文編號：2573816