【摘要】：分別以富集有Cr,Pb和Cd三種元素的尼龍薄膜樣品及玻璃纖維濾膜為研究對象,采用濾膜疊加的方式,通過XRF光譜儀測量不同樣品厚度下薄膜樣品的XRF光譜,根據(jù)測得的尼龍薄膜樣品中Cr,Pb,Cd元素及玻璃纖維濾膜中Ca,As和Sr元素特征XRF性質(zhì)的變化,研究樣品厚度對薄膜法XRF光譜測量的影響。結(jié)果表明:薄膜樣品厚度對不同能量區(qū)間上元素特征譜線熒光性質(zhì)的影響并不相同。元素特征譜線能量越大,元素特征X射線熒光穿透濾膜到達(dá)探測器的過程中損失越少;但由薄膜樣品厚度增加引起的基體效應(yīng)卻越強(qiáng),相應(yīng)特征譜線位置處的背景熒光強(qiáng)度就越大,因此樣品厚度增加所引起的基體效應(yīng)對薄膜法XRF光譜測量的靈敏度影響就越大。對于特征譜線能量較低(能量小于7keV)的元素,以增加薄膜樣品厚度的方式來增加待測組分的質(zhì)量厚度濃度,并不能有效地提高薄膜法XRF光譜測量的靈敏度;對于特征譜線能量較高的元素(能量7keV),可以通過適當(dāng)增加樣品厚度以增加被測組分的質(zhì)量厚度濃度的方式來提高XRF光譜測量的靈敏度,薄膜樣品厚度在0.96~2.24mm內(nèi),更有利于XRF光譜的測量與分析。該研究為大氣及水體重金屬薄膜法XRF光譜分析中薄樣制備及富集技術(shù)提供了重要的理論依據(jù)。
[Abstract]:The samples of nylon film and glass fiber filter membrane enriched with Cr,Pb and Cd were studied respectively. The XRF spectra of the film samples with different thickness were measured by XRF spectrometer by means of the superposition of the filter membrane. According to the changes of the characteristic XRF properties of Cr,Pb,Cd in nylon film and Ca,As and Sr in glass fiber filter membrane, the influence of sample thickness on XRF spectrum measurement by thin film method was studied. The results show that the thickness of thin films has different effects on the fluorescence properties of element characteristic lines in different energy ranges. The larger the energy of the element characteristic line, the less the loss of the element characteristic X-ray fluorescence penetrating filter membrane to the detector, but the stronger the matrix effect caused by the increase of the thickness of the film sample. The higher the background fluorescence intensity at the location of the corresponding characteristic line, the greater the influence of the matrix effect caused by the increase of the sample thickness on the sensitivity of the thin film XRF spectroscopy measurement. For the element with low characteristic line energy (energy less than 7keV), increasing the mass thickness concentration of the component by increasing the thickness of the film sample can not effectively improve the sensitivity of the XRF spectrum measurement by the thin film method. For the element (energy 7keV) with higher characteristic line energy, the sensitivity of XRF spectrum measurement can be improved by increasing the thickness of the sample to increase the mass thickness concentration of the measured component. The thickness of the film sample is in 0.96~2.24mm. It is more favorable to the measurement and analysis of XRF spectra. This study provides an important theoretical basis for the preparation and enrichment of thin samples in the XRF spectroscopic analysis of heavy metals in atmospheric and water bodies.
【作者單位】： 中國科學(xué)院安徽光學(xué)精密機(jī)械研究所環(huán)境光學(xué)與技術(shù)重點實驗室安徽省環(huán)境光學(xué)監(jiān)測技術(shù)重點實驗室;皖江新興產(chǎn)業(yè)技術(shù)發(fā)展中心;中國人民解放軍陸軍軍官學(xué)院;
【基金】：皖江新興產(chǎn)業(yè)技術(shù)發(fā)展中心企業(yè)合作項目(ZNJX-15-10) 國家(863)計劃項目(2013AA065502) 國家自然科學(xué)基金項目(61405257) 安徽省自然科學(xué)基金項目(1508085MF138) 安徽省自主創(chuàng)新專項(12Z0104074)資助
【分類號】：O657.34

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本文編號：2269229