二氧化硫和二硫化碳?xì)怏w測(cè)量的吸收光譜方法研究
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《哈爾濱工業(yè)大學(xué)》 2015年
二氧化硫和二硫化碳?xì)怏w測(cè)量的吸收光譜方法研究
王琳
【摘要】:二氧化硫和二硫化碳是常見(jiàn)的大氣污染氣體,主要產(chǎn)生于日常生活和工業(yè)生產(chǎn)中,均會(huì)導(dǎo)致經(jīng)濟(jì)損失,并威脅人體健康;同時(shí),它們也是高壓設(shè)備故障檢測(cè)的重要?dú)怏w之一。提高痕量氣體濃度檢測(cè)精度,并實(shí)現(xiàn)混合氣體中二者的同時(shí)檢測(cè),具有非常重要的意義。紫外吸收光譜以其高分辨、非接觸、可實(shí)現(xiàn)在線檢測(cè)等優(yōu)勢(shì)廣泛應(yīng)用于痕量氣體檢測(cè)。本文以Beer-Lambert定律為基礎(chǔ),分別開展了二氧化硫、二硫化碳?xì)怏w測(cè)量的寬帶吸收光譜方法的研究,并在此基礎(chǔ)上開展了二者混氣中各組分同時(shí)測(cè)量的寬帶吸收光譜方法研究。開展了二氧化硫氣體測(cè)量的寬帶吸收光譜方法研究。利用積分光譜法,分別在200nm附近波段及300nm附近波段開展了二氧化硫探測(cè)性能的研究。測(cè)量了二氧化硫氣體探測(cè)的各項(xiàng)技術(shù)參數(shù),對(duì)應(yīng)波段的氣體探測(cè)限分別為0.1ppm·m和0.6ppm·m。通過(guò)比較兩波段內(nèi)技術(shù)參數(shù),發(fā)現(xiàn)采用200nm附近吸收截面可有效降低SO2探測(cè)限,此波段更適用于低濃度SO2氣體的測(cè)量。開展了二硫化碳測(cè)量方法的研究。分別利用比值法、積分光譜法、最小二乘法,在200nm附近波段開展了二硫化碳探測(cè)性能的研究。測(cè)量了二硫化碳?xì)怏w探測(cè)的各項(xiàng)技術(shù)參數(shù),對(duì)應(yīng)測(cè)量方法的氣體探測(cè)限分別為10ppb·m、3ppb·m和3ppb·m。通過(guò)比較三種方法下的技術(shù)參數(shù),發(fā)現(xiàn)積分光譜法較比值法更適合于二硫化碳檢測(cè),最小二乘法不會(huì)降低氣體探測(cè)性能,實(shí)驗(yàn)條件下獲得的CS2最低探測(cè)限為3ppb·m。開展了二氧化硫和二硫化碳混氣中,各組分同時(shí)測(cè)量的研究。利用最小二乘法,在200nm附近波段測(cè)量了50ppm二氧化硫、5ppm二硫化碳范圍內(nèi)的混氣中各組分同時(shí)測(cè)量時(shí),組分濃度變化引起的兩種氣體探測(cè)結(jié)果互相影響;除去氣體濃度干擾引起的相互影響,系統(tǒng)對(duì)二者的響應(yīng)濃度分別為0.4ppm和0.02ppm;綜合考慮,二氧化硫和二硫化碳的最低響應(yīng)濃度分別為0.9ppm和0.03ppm。
【關(guān)鍵詞】:
【學(xué)位授予單位】:哈爾濱工業(yè)大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2015
【分類號(hào)】:O657.31;X831
【目錄】:
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【引證文獻(xiàn)】
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本文編號(hào):186753
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