本文關(guān)鍵詞：多涂層厚度渦流無(wú)損檢測(cè)技術(shù)及其實(shí)現(xiàn)方法研究

  更多相關(guān)文章： 多層導(dǎo)電涂層 厚度 無(wú)損評(píng)估 多頻渦流檢測(cè) 實(shí)驗(yàn)研究

【摘要】：隨著科學(xué)技術(shù)的迅速發(fā)展和航空航天飛行器飛行速度的不斷提高,使得航天高速飛行器艙體以及渦輪發(fā)動(dòng)機(jī)葉片等零部件上涂覆涂層的材料與結(jié)構(gòu)越來(lái)越復(fù)雜。然而涂層的厚度及涂覆的均勻性將直接影響基體的溫度分布,厚度不均勻的熱障涂層會(huì)造成基體局部溫度的驟然升高而導(dǎo)致渦輪發(fā)動(dòng)機(jī)以及飛行器艙體等零部件發(fā)生失效或運(yùn)動(dòng)狀態(tài)發(fā)生改變,嚴(yán)重的會(huì)導(dǎo)致航天飛行器墜毀,從而引發(fā)一些災(zāi)難性的事故。因此,多層導(dǎo)電涂層厚度的無(wú)損評(píng)價(jià)已經(jīng)成為高端裝備制造業(yè)一個(gè)重要的研究課題。渦流無(wú)損檢測(cè)技術(shù)以其低成本、高靈敏度、快速檢測(cè)以及非接觸式測(cè)量的特點(diǎn),在航空航天、核工業(yè)等領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。本文是在中國(guó)航天科技集團(tuán)第八研究院SAST基金項(xiàng)目“基于渦流無(wú)損檢測(cè)的航天熱障涂層材料厚度檢測(cè)技術(shù)研究”(項(xiàng)目編號(hào):SAST201220)資助下展開(kāi)實(shí)驗(yàn)研究。本論文的主要研究?jī)?nèi)容如下:(1)根據(jù)渦流檢測(cè)的基本原理及多頻多參數(shù)檢測(cè)理論,針對(duì)多涂層厚度的檢測(cè),設(shè)計(jì)和搭建了多頻渦流檢測(cè)系統(tǒng),包括對(duì)激勵(lì)信號(hào)源、信號(hào)調(diào)理電路、數(shù)據(jù)采集模塊及數(shù)據(jù)處理程序的設(shè)計(jì)等。(2)利用搭建的實(shí)驗(yàn)檢測(cè)平臺(tái),研究各層材料之間的相互影響,提出基于“折線法”的多涂層厚度檢測(cè)方法。并對(duì)不同檢測(cè)參數(shù)(激勵(lì)信號(hào)、激勵(lì)線圈尺寸、檢測(cè)部件、被測(cè)試件電導(dǎo)率)的影響進(jìn)行實(shí)驗(yàn)研究,從而得到適用于“折線法”檢測(cè)多涂層厚度的最優(yōu)檢測(cè)條件。(3)根據(jù)(2)中實(shí)驗(yàn)研究結(jié)果,對(duì)基體上單涂層、雙涂層、三涂層以及未知電導(dǎo)率下單涂層的厚度進(jìn)行測(cè)量,結(jié)合實(shí)際檢測(cè)條件以及誤差分析,對(duì)檢測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行優(yōu)化處理。通過(guò)以上實(shí)驗(yàn)研究,結(jié)合優(yōu)化完善以后的實(shí)驗(yàn)檢測(cè)系統(tǒng),驗(yàn)證了“折線法”在精確檢測(cè)多涂層厚度方面的可行性。
【關(guān)鍵詞】：多層導(dǎo)電涂層 厚度 無(wú)損評(píng)估 多頻渦流檢測(cè) 實(shí)驗(yàn)研究
【學(xué)位授予單位】：電子科技大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2015
【分類號(hào)】：V267
【目錄】：

• 摘要5-6
• ABSTRACT6-10
• 第一章 緒論10-18
• 1.1 課題研究背景及意義10-11
• 1.2 渦流無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的研究現(xiàn)狀及發(fā)展趨勢(shì)11-15
• 1.2.1 渦流無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的研究現(xiàn)狀11-12
• 1.2.2 渦流無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)12-13
• 1.2.3 多層導(dǎo)電涂層厚度渦流檢測(cè)技術(shù)發(fā)展現(xiàn)狀13-15
• 1.3 選題依據(jù)及課題來(lái)源15
• 1.4 論文的研究?jī)?nèi)容及創(chuàng)新點(diǎn)15-16
• 1.5 論文的結(jié)構(gòu)安排16-18
• 第二章 電渦流厚度檢測(cè)原理及方法研究18-31
• 2.1 電渦流厚度檢測(cè)的工作原理18-21
• 2.1.1 電渦流檢測(cè)的等效電路分析19-20
• 2.1.2 渦流無(wú)損檢測(cè)的趨膚效應(yīng)20-21
• 2.2 多頻多參數(shù)電渦流檢測(cè)技術(shù)21-24
• 2.2.1 多頻電渦流檢測(cè)基本原理21-23
• 2.2.2 多頻多參數(shù)渦流檢測(cè)方法在多涂層厚度檢測(cè)中的應(yīng)用23-24
• 2.3 多層導(dǎo)電涂層厚度渦流檢測(cè)方法研究24-30
• 2.3.1 現(xiàn)有的技術(shù)解決方案24
• 2.3.2 現(xiàn)有技術(shù)解決方案存在的問(wèn)題24-25
• 2.3.3 多涂層之間厚度關(guān)系研究25-27
• 2.3.4 多層導(dǎo)電涂層厚度的渦流檢測(cè)方法27-30
• 2.4 本章小結(jié)30-31
• 第三章 多涂層厚度渦流檢測(cè)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)31-47
• 3.1 檢測(cè)系統(tǒng)的總體方案設(shè)計(jì)31
• 3.2 多涂層厚度檢測(cè)系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)31-40
• 3.2.1 激勵(lì)信號(hào)發(fā)生模塊設(shè)計(jì)33-36
• 3.2.2 放大濾波電路設(shè)計(jì)36-37
• 3.2.3 數(shù)據(jù)采集模塊設(shè)計(jì)37-40
• 3.3 多涂層厚度檢測(cè)系統(tǒng)軟件平臺(tái)設(shè)計(jì)40-46
• 3.3.1 基于LabVIEW的數(shù)據(jù)采集及幅值提取模塊41-45
• 3.3.2 基于Matlab的數(shù)據(jù)分析及處理45-46
• 3.4 本章小結(jié)46-47
• 第四章 多涂層厚度檢測(cè)的影響因素分析47-62
• 4.1 激勵(lì)信號(hào)對(duì)涂層厚度檢測(cè)結(jié)果的影響47-50
• 4.1.1 激勵(lì)信號(hào)的頻率對(duì)涂層厚度檢測(cè)結(jié)果的影響47-49
• 4.1.2 激勵(lì)信號(hào)幅值對(duì)涂層厚度檢測(cè)結(jié)果的影響49-50
• 4.2 激勵(lì)線圈尺寸對(duì)涂層厚度檢測(cè)結(jié)果的影響50-51
• 4.3 檢測(cè)部件不同對(duì)涂層厚度檢測(cè)結(jié)果的影響51-53
• 4.4 電導(dǎo)率的相對(duì)大小對(duì)涂層厚度檢測(cè)結(jié)果的影響53-61
• 4.4.1 基體與涂層材料電導(dǎo)率的相對(duì)大小對(duì)涂層厚度檢測(cè)結(jié)果的影響53-57
• 4.4.2 涂層材料之間電導(dǎo)率的相對(duì)大小對(duì)涂層厚度檢測(cè)結(jié)果的影響57-61
• 4.5 本章小結(jié)61-62
• 第五章 多涂層厚度檢測(cè)實(shí)驗(yàn)結(jié)果分析62-75
• 5.1 單涂層厚度檢測(cè)實(shí)驗(yàn)62-63
• 5.2 雙涂層厚度檢測(cè)實(shí)驗(yàn)63-65
• 5.3 多涂層厚度檢測(cè)系統(tǒng)的優(yōu)化處理65-68
• 5.4 三涂層厚度檢測(cè)實(shí)驗(yàn)68-71
• 5.5 未知電導(dǎo)率下單涂層厚度檢測(cè)實(shí)驗(yàn)71-74
• 5.6 本章小結(jié)74-75
• 第六章 總結(jié)與展望75-77
• 6.1 全文總結(jié)75-76
• 6.2 工作展望76-77
• 致謝77-78
• 參考文獻(xiàn)78-81
• 攻讀碩士期間取得的研究成果81-82

【共引文獻(xiàn)】

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本文編號(hào)：768294