發(fā)布時(shí)間：2017-08-03 01:23

  本文關(guān)鍵詞：系統(tǒng)級(jí)測(cè)試下靜電防護(hù)器件的失效機(jī)理分析

  更多相關(guān)文章： 系統(tǒng)級(jí)測(cè)試 ESD防護(hù)器件 性能退化 瞬變電壓抑制器 二次擊穿

【摘要】：為滿足系統(tǒng)級(jí)電磁兼容測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-2,許多航空電子設(shè)備中都有靜電放電(ESD)防護(hù)器件,其功能的失效直接影響到被保護(hù)電路和整機(jī)的安全性。在分析該類器件的失效機(jī)理時(shí)考慮到典型性,選擇雙極性ESD防護(hù)器件0603ESDA-TR作為受試對(duì)象,研究了系統(tǒng)級(jí)ESD注入對(duì)器件性能的影響,并對(duì)器件內(nèi)部溫度分布進(jìn)行了仿真分析。研究表明ESD脈沖注入時(shí)雪崩電流在整個(gè)pn結(jié)面分布不均勻,僅集中在邊緣幾個(gè)點(diǎn)上,局部過(guò)熱點(diǎn)的溫度甚至達(dá)到硅熔融溫度,將破壞原有的晶格結(jié)構(gòu),導(dǎo)致器件二次擊穿而發(fā)生硬損傷。當(dāng)ESD電壓達(dá)到25kV后,器件的性能參數(shù)開(kāi)始退化,但反向漏電流幾乎不變;連續(xù)100次脈沖后器件完全失效。分析后得出的結(jié)論是:ESD防護(hù)器件遭受系統(tǒng)級(jí)靜電放電沖擊時(shí)具有累積效應(yīng),其失效是由性能退化引起的,并且傳統(tǒng)的漏電流檢測(cè)無(wú)法探測(cè)到ESD引起的損傷。
【作者單位】： 中國(guó)空氣動(dòng)力研究與發(fā)展中心;北京跟蹤與通信技術(shù)研究所;
【關(guān)鍵詞】： 系統(tǒng)級(jí)測(cè)試 ESD防護(hù)器件 性能退化 瞬變電壓抑制器 二次擊穿
【基金】：國(guó)家自然科學(xué)基金項(xiàng)目(51177174) 國(guó)防科技重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室項(xiàng)目(9140C87020410JB3403)
【分類號(hào)】：V243
【正文快照】： 0引言靜電放電(ESD)過(guò)程伴隨高電壓、大電流,是電氣設(shè)備的重要危害源之一。航空電子設(shè)備從生產(chǎn)到裝機(jī)運(yùn)行的過(guò)程中,都可能因?yàn)镋SD損傷而失效[1]。通常在芯片設(shè)計(jì)之初都會(huì)在內(nèi)部集成ESD防護(hù)模塊,以節(jié)約電路板空間,減少系統(tǒng)成本。隨著深亞微米及納米級(jí)工藝的發(fā)展,微電子器件體積

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1 薛玉霞;;安全度夏防雷電[J];湖南農(nóng)機(jī);2012年08期

2 ;產(chǎn)品推薦[J];現(xiàn)代制造;2006年07期

3 張希軍;楊潔;王振興;李賢軍;;微帶線在快速脈沖防護(hù)器件性能測(cè)試中的應(yīng)用[J];廣東工業(yè)大學(xué)學(xué)報(bào);2011年03期

4 謝鋒;結(jié)合供電線路的制式合理選擇避雷器[J];郵電設(shè)計(jì)技術(shù);2001年06期

5 ;[J];;年期

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1 本報(bào)記者 趙艷秋;ESD器件：新接口市場(chǎng)是熱點(diǎn) 集成EMI方案將流行[N];中國(guó)電子報(bào);2009年

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1 梁海蓮;集成電路高壓ESD防護(hù)器件的研究[D];江南大學(xué);2014年

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1 王煒槐;納米集成電路ESD防護(hù)研究[D];浙江大學(xué);2016年

2 崔強(qiáng);集成電路中ESD防護(hù)研究[D];浙江大學(xué);2008年

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本文編號(hào)：612111