PID的建設(shè)能進(jìn)一步細(xì)化GJB9001質(zhì)量體系的要求,通過(guò)對(duì)過(guò)程方法實(shí)施控制,最終達(dá)到固化產(chǎn)品質(zhì)量的目的。本文介紹了宇航用電感器PID的建設(shè)過(guò)程、方法和基本流程,重點(diǎn)分析了PID建設(shè)過(guò)程中的人員能力一致性和產(chǎn)品關(guān)鍵特性一致性,明確了PID建設(shè)過(guò)程的產(chǎn)品基線控制,結(jié)合航天器用電感器PID建設(shè)及運(yùn)行效果,探索了PID建設(shè)的方法。

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【部分圖文】：

圖1膜厚的單值控制圖[4]

通過(guò)對(duì)以上2組數(shù)據(jù)進(jìn)行分析可知，A組膜厚平均值為30.3μm,B組膜厚平均值為29.8μm,A組膜厚控制上下限分別為35.75μm和24.87μm,B組膜厚標(biāo)準(zhǔn)差為1.06μm,B組膜厚控制上下限分別為33.16μm和26.51μm。從對(duì)比數(shù)據(jù)來(lái)看，兩組數(shù)據(jù)均值基本一致，但B組數(shù)....

圖2電感量的正態(tài)分布圖

對(duì)A組和B組成品電感量的正態(tài)圖進(jìn)行分析可以發(fā)現(xiàn)，A組和B組電感量的P值均大于0.05，可判定兩組電感量均符合正態(tài)分布。A組電感量的標(biāo)準(zhǔn)差為1.364nH,B組電感量標(biāo)準(zhǔn)差為0.998nH，可判定B組電感量的一致性較A組好[10]，如圖2所示。將以上兩組數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比可以發(fā)現(xiàn)，在....

圖3檢驗(yàn)數(shù)據(jù)自動(dòng)采集系統(tǒng)

為提升質(zhì)量檢驗(yàn)規(guī)范程度、提高檢驗(yàn)效率，振華富公司開(kāi)發(fā)和引入了檢驗(yàn)數(shù)據(jù)自動(dòng)采集系統(tǒng)（見(jiàn)圖3）。該系統(tǒng)結(jié)合產(chǎn)品實(shí)際，實(shí)現(xiàn)了將電性能和外觀檢驗(yàn)數(shù)據(jù)半自動(dòng)化采集至數(shù)據(jù)庫(kù)，自動(dòng)化生成質(zhì)量AB組檢驗(yàn)報(bào)告和出貨檢驗(yàn)報(bào)告。其中，第一階段實(shí)現(xiàn)了用戶需求等級(jí)電感器100%數(shù)據(jù)記錄，第二階段開(kāi)始實(shí)施其....

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