目的研究衛(wèi)星上外露導(dǎo)線在空間輻射環(huán)境下的耐受能力。方法通過分析GEO軌道下在軌10年航天器外露瑞侃導(dǎo)線的輻照環(huán)境,研究低能和高能電子對導(dǎo)線性能的影響,地面模擬試驗(yàn)參數(shù)選擇能量分別為45 keV和1 MeV,注量率均為8.3×10¹⁰ e/（cm²·s）,總注量均為2×10¹⁶ e/cm²�？疾烊鹳⿲�(dǎo)線力學(xué)性能（斷裂伸長率、拉伸強(qiáng)度）和電性能（擊穿電壓）的退化情況,并用XPS和SEM測試分析手段,對其電子輻照損傷機(jī)理進(jìn)行研究。結(jié)果在不同能量電子輻照下,瑞侃導(dǎo)線的力學(xué)性能均略有下降,沒有顯著區(qū)別,而電學(xué)性能嚴(yán)重退化,且低能電子較高能電子對其電學(xué)性能影響更為嚴(yán)重,其擊穿電壓分別下降了100%和50%。結(jié)論通過劑量-深度分布計算,45keV入射電子能量全部沉積在樣品表層下數(shù)微米的深度范圍內(nèi),完全被導(dǎo)線外皮吸收,對樣品的損傷較大;而1MeV入射電子能量絕大部分穿透表皮沉積在樣品銅芯中,因而其性能退化情況相對低能電子較小。進(jìn)一步的,通過SEM和XPS測試和分析發(fā)現(xiàn),電子輻照造成瑞侃導(dǎo)線分子鏈降解,形成自由基以及... 

【文章來源】：裝備環(huán)境工程. 2020,17(03)

【文章頁數(shù)】：7 頁

【部分圖文】：

捕獲帶電子和質(zhì)子的GEO積分通量

瑞侃導(dǎo)線結(jié)構(gòu)

兩種能量電子輻照下樣品的斷裂伸長率和拉伸強(qiáng)度變化曲線分別如圖3、圖4所示�？梢娫诘湍茈娮虞椪障�，斷裂伸長率呈顯著下降趨勢，由52%左右下降為42%左右，下降幅度約為20%；高能電子輻照下，樣品斷裂伸長率沒有特別明顯的變化。低能電子輻照下，樣品拉伸強(qiáng)度由147 MPa左右下降為146 MPa左右，沒明顯的變化趨勢。高能電子輻照下，拉伸強(qiáng)度下降趨勢明顯，由147 MPa左右下降到133 MPa左右，下降幅度10%左右。由于做力學(xué)性能測試時，導(dǎo)線銅芯的存在會對拉伸強(qiáng)度和斷裂伸長率測試有一定的影響，可能會導(dǎo)致結(jié)果存在一定的隨機(jī)性，且由于材料介質(zhì)的不均勻性，尤其是高聚物的聚集形態(tài)非常復(fù)雜，材料性能也會呈統(tǒng)計分布。因此，可以認(rèn)為瑞侃導(dǎo)線力學(xué)性能10%的退化可以忽略。整體而言，瑞侃導(dǎo)線的力學(xué)性能略有下降。圖4 兩種能量電子輻照下瑞侃導(dǎo)線拉伸強(qiáng)度的變化

【參考文獻(xiàn)】：
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