目的研究衛(wèi)星上外露導線在空間輻射環(huán)境下的耐受能力。方法通過分析GEO軌道下在軌10年航天器外露瑞侃導線的輻照環(huán)境,研究低能和高能電子對導線性能的影響,地面模擬試驗參數選擇能量分別為45 keV和1 MeV,注量率均為8.3×10¹⁰ e/（cm²·s）,總注量均為2×10¹⁶ e/cm²。考察瑞侃導線力學性能（斷裂伸長率、拉伸強度）和電性能（擊穿電壓）的退化情況,并用XPS和SEM測試分析手段,對其電子輻照損傷機理進行研究。結果在不同能量電子輻照下,瑞侃導線的力學性能均略有下降,沒有顯著區(qū)別,而電學性能嚴重退化,且低能電子較高能電子對其電學性能影響更為嚴重,其擊穿電壓分別下降了100%和50%。結論通過劑量-深度分布計算,45keV入射電子能量全部沉積在樣品表層下數微米的深度范圍內,完全被導線外皮吸收,對樣品的損傷較大;而1MeV入射電子能量絕大部分穿透表皮沉積在樣品銅芯中,因而其性能退化情況相對低能電子較小。進一步的,通過SEM和XPS測試和分析發(fā)現,電子輻照造成瑞侃導線分子鏈降解,形成自由基以及... 

【文章來源】：裝備環(huán)境工程. 2020,17(03)

【文章頁數】：7 頁

【部分圖文】：

捕獲帶電子和質子的GEO積分通量

瑞侃導線結構

兩種能量電子輻照下樣品的斷裂伸長率和拉伸強度變化曲線分別如圖3、圖4所示�？梢娫诘湍茈娮虞椪障�，斷裂伸長率呈顯著下降趨勢，由52%左右下降為42%左右，下降幅度約為20%；高能電子輻照下，樣品斷裂伸長率沒有特別明顯的變化。低能電子輻照下，樣品拉伸強度由147 MPa左右下降為146 MPa左右，沒明顯的變化趨勢。高能電子輻照下，拉伸強度下降趨勢明顯，由147 MPa左右下降到133 MPa左右，下降幅度10%左右。由于做力學性能測試時，導線銅芯的存在會對拉伸強度和斷裂伸長率測試有一定的影響，可能會導致結果存在一定的隨機性，且由于材料介質的不均勻性，尤其是高聚物的聚集形態(tài)非常復雜，材料性能也會呈統(tǒng)計分布。因此，可以認為瑞侃導線力學性能10%的退化可以忽略。整體而言，瑞侃導線的力學性能略有下降。圖4 兩種能量電子輻照下瑞侃導線拉伸強度的變化

【參考文獻】：
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