PI纖維在空間帶電粒子輻照下的力學(xué)性能損傷 全文替換
發(fā)布時(shí)間:2021-08-26 02:49
目的研究聚酰亞胺(PI)纖維在電子輻照、質(zhì)子輻照、應(yīng)力耦合質(zhì)子輻照條件下力學(xué)性能的損傷行為。方法采用中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春應(yīng)用化學(xué)研究所自主合成并紡絲制備的聚酰亞胺纖維,在空間環(huán)境模擬設(shè)備輻照的條件下,研究空間帶電粒子對(duì)聚酰亞胺纖維輻照后的力學(xué)損傷行為,并通過(guò)XQ-1型纖維強(qiáng)度儀對(duì)輻照前后的樣品進(jìn)行拉伸試驗(yàn)。結(jié)果在低能電子輻照條件下,聚酰亞胺纖維的拉伸強(qiáng)度、模量和斷裂伸長(zhǎng)率均有所降低,但變化不太顯著;高能電子輻照會(huì)提高材料的模量;質(zhì)子輻照后,材料的拉伸強(qiáng)度和斷裂伸長(zhǎng)率隨著輻照注量的增加明顯降低;單一施加5%的應(yīng)變會(huì)使聚酰亞胺纖維的拉伸力學(xué)性能有一定量下降。與單一應(yīng)變樣品相比,應(yīng)力耦合質(zhì)子輻照樣品的拉伸強(qiáng)度和斷裂伸長(zhǎng)率進(jìn)一步下降,但是與單一質(zhì)子輻照樣品相比,應(yīng)力耦合輻照樣品的拉伸強(qiáng)度和斷裂伸長(zhǎng)率都更高。結(jié)論無(wú)論是在低能電子輻照條件下,還是在高能電子輻照條件下,電子輻照對(duì)聚酰亞胺纖維力學(xué)性能影響均較微弱,而質(zhì)子輻照會(huì)較大程度地降低材料的力學(xué)性能,增加應(yīng)力耦合效應(yīng)之后,質(zhì)子輻照對(duì)材料的力學(xué)性能影響減弱。
【文章來(lái)源】:裝備環(huán)境工程. 2020,17(03)
【文章頁(yè)數(shù)】:7 頁(yè)
【部分圖文】:
聚酰亞胺纖維分子結(jié)構(gòu)
根據(jù)文中單一帶電粒子輻照的研究結(jié)果,發(fā)現(xiàn)質(zhì)子輻照對(duì)聚酰亞胺纖維的力學(xué)性能影響較大。因而,為了研究應(yīng)力耦合輻照效應(yīng)對(duì)纖維力學(xué)性能的影響,選擇了與150 keV質(zhì)子輻照相同試驗(yàn)條件下,7×1015、12×1016 cm-2兩個(gè)不同的注量,進(jìn)行應(yīng)力耦合質(zhì)子輻照實(shí)驗(yàn)。通過(guò)筆者課題組自制的施加恒應(yīng)變的卡具,實(shí)現(xiàn)聚酰亞胺纖維的應(yīng)力耦合輻照實(shí)驗(yàn),卡具原理如圖2所示。樣品由夾片夾持,通過(guò)螺釘固定壓緊,在中間絲杠的傳動(dòng)作用下,可以實(shí)現(xiàn)上模塊上升,而下模塊保持不動(dòng)的狀態(tài),因此樣品可以隨著上模塊的運(yùn)動(dòng)伸長(zhǎng)。通過(guò)游標(biāo)卡尺測(cè)量樣品伸長(zhǎng)的距離,結(jié)合樣品原始長(zhǎng)度計(jì)算得到樣品的應(yīng)變量。由于絲桿本身帶有自鎖功能,上模塊在向上運(yùn)動(dòng)的過(guò)程中以及停止運(yùn)動(dòng)后,并不會(huì)向下滑動(dòng),因而可以固定鎖死,保證樣品的恒應(yīng)變。根據(jù)質(zhì)子輻照對(duì)聚酰亞胺纖維力學(xué)性能影響的應(yīng)力-應(yīng)變曲線,對(duì)樣品施加的應(yīng)變確定為5%。同時(shí),為了排除單純施加應(yīng)力對(duì)聚酰亞胺纖維力學(xué)性能的影響,準(zhǔn)備了與輻照相同的時(shí)間和真空條件下,只施加5%的時(shí)間和真應(yīng)變量而無(wú)輻照的試驗(yàn)作為對(duì)照,與相同條件下應(yīng)力耦合輻照后的纖維力學(xué)性能進(jìn)行對(duì)比分析。1.3 拉伸性能測(cè)試
150 keV電子輻照聚酰亞胺纖維樣品的應(yīng)力-應(yīng)變曲線如圖3所示?梢钥闯,電子輻照后,樣品的拉伸強(qiáng)度和斷裂伸長(zhǎng)率比原始樣品有一定量的下降。這與聚酰亞胺薄膜受電子輻照后拉伸性能變化情況一致[14]。150 keV電子輻照前后,聚酰亞胺纖維拉伸性能的各個(gè)參數(shù)變化見(jiàn)表2。由表2可知,聚酰亞胺纖維經(jīng)電子輻照后,拉伸強(qiáng)度和模量隨輻照注量的增加而下降。為了進(jìn)一步證實(shí)這些變化是由于輻照的影響而不是隨機(jī)的不可控因素造成的,采用方差分析(ANOVA)的方法來(lái)評(píng)估150 keV電子輻照對(duì)聚酰亞胺纖維力學(xué)性能影響的可信度[15]。
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]電子輻照聚酰亞胺薄膜力學(xué)性能演化機(jī)理研究[J]. 沈自才,佟欣,武博涵. 強(qiáng)激光與粒子束. 2016(05)
[2]質(zhì)子輻照聚酰亞胺薄膜的力學(xué)性能退化機(jī)理[J]. 沈自才,張帆,高鴻. 宇航材料工藝. 2015(02)
[3]高強(qiáng)高模聚酰亞胺纖維的耐環(huán)境影響性能研究[J]. 牛鴻慶,張夢(mèng)穎,周康迪,武德珍. 工業(yè)技術(shù)創(chuàng)新. 2014(01)
[4]聚酰亞胺及其纖維的研究與開(kāi)發(fā)進(jìn)展(Ⅱ)[J]. 朱璇,錢(qián)明球,虞鑫海,張幼維,趙炯心. 合成技術(shù)及應(yīng)用. 2013(02)
[5]方差分析法淺析——單因素的方差分析[J]. 楊小勇. 實(shí)驗(yàn)科學(xué)與技術(shù). 2013(01)
[6]聚酰亞胺纖維制備及應(yīng)用[J]. 董杰,王士華,徐圓,夏清明,張清華. 中國(guó)材料進(jìn)展. 2012(10)
[7]均苯型聚酰亞胺薄膜在質(zhì)子輻照下的力學(xué)性能退化試驗(yàn)研究[J]. 張帆,沈自才,馮偉泉,鄭慧奇,丁義剛,趙春晴. 航天器環(huán)境工程. 2012(03)
碩士論文
[1]應(yīng)力場(chǎng)與帶電粒子輻照耦合作用下聚酰亞胺薄膜的損傷行為[D]. 李鵬.哈爾濱工業(yè)大學(xué) 2014
[2]質(zhì)子輻照下SiO2薄膜改性Kapton光學(xué)性能演化及其損傷機(jī)理[D]. 李瑞鋒.哈爾濱工業(yè)大學(xué) 2010
本文編號(hào):3363392
【文章來(lái)源】:裝備環(huán)境工程. 2020,17(03)
【文章頁(yè)數(shù)】:7 頁(yè)
【部分圖文】:
聚酰亞胺纖維分子結(jié)構(gòu)
根據(jù)文中單一帶電粒子輻照的研究結(jié)果,發(fā)現(xiàn)質(zhì)子輻照對(duì)聚酰亞胺纖維的力學(xué)性能影響較大。因而,為了研究應(yīng)力耦合輻照效應(yīng)對(duì)纖維力學(xué)性能的影響,選擇了與150 keV質(zhì)子輻照相同試驗(yàn)條件下,7×1015、12×1016 cm-2兩個(gè)不同的注量,進(jìn)行應(yīng)力耦合質(zhì)子輻照實(shí)驗(yàn)。通過(guò)筆者課題組自制的施加恒應(yīng)變的卡具,實(shí)現(xiàn)聚酰亞胺纖維的應(yīng)力耦合輻照實(shí)驗(yàn),卡具原理如圖2所示。樣品由夾片夾持,通過(guò)螺釘固定壓緊,在中間絲杠的傳動(dòng)作用下,可以實(shí)現(xiàn)上模塊上升,而下模塊保持不動(dòng)的狀態(tài),因此樣品可以隨著上模塊的運(yùn)動(dòng)伸長(zhǎng)。通過(guò)游標(biāo)卡尺測(cè)量樣品伸長(zhǎng)的距離,結(jié)合樣品原始長(zhǎng)度計(jì)算得到樣品的應(yīng)變量。由于絲桿本身帶有自鎖功能,上模塊在向上運(yùn)動(dòng)的過(guò)程中以及停止運(yùn)動(dòng)后,并不會(huì)向下滑動(dòng),因而可以固定鎖死,保證樣品的恒應(yīng)變。根據(jù)質(zhì)子輻照對(duì)聚酰亞胺纖維力學(xué)性能影響的應(yīng)力-應(yīng)變曲線,對(duì)樣品施加的應(yīng)變確定為5%。同時(shí),為了排除單純施加應(yīng)力對(duì)聚酰亞胺纖維力學(xué)性能的影響,準(zhǔn)備了與輻照相同的時(shí)間和真空條件下,只施加5%的時(shí)間和真應(yīng)變量而無(wú)輻照的試驗(yàn)作為對(duì)照,與相同條件下應(yīng)力耦合輻照后的纖維力學(xué)性能進(jìn)行對(duì)比分析。1.3 拉伸性能測(cè)試
150 keV電子輻照聚酰亞胺纖維樣品的應(yīng)力-應(yīng)變曲線如圖3所示?梢钥闯,電子輻照后,樣品的拉伸強(qiáng)度和斷裂伸長(zhǎng)率比原始樣品有一定量的下降。這與聚酰亞胺薄膜受電子輻照后拉伸性能變化情況一致[14]。150 keV電子輻照前后,聚酰亞胺纖維拉伸性能的各個(gè)參數(shù)變化見(jiàn)表2。由表2可知,聚酰亞胺纖維經(jīng)電子輻照后,拉伸強(qiáng)度和模量隨輻照注量的增加而下降。為了進(jìn)一步證實(shí)這些變化是由于輻照的影響而不是隨機(jī)的不可控因素造成的,采用方差分析(ANOVA)的方法來(lái)評(píng)估150 keV電子輻照對(duì)聚酰亞胺纖維力學(xué)性能影響的可信度[15]。
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]電子輻照聚酰亞胺薄膜力學(xué)性能演化機(jī)理研究[J]. 沈自才,佟欣,武博涵. 強(qiáng)激光與粒子束. 2016(05)
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[3]高強(qiáng)高模聚酰亞胺纖維的耐環(huán)境影響性能研究[J]. 牛鴻慶,張夢(mèng)穎,周康迪,武德珍. 工業(yè)技術(shù)創(chuàng)新. 2014(01)
[4]聚酰亞胺及其纖維的研究與開(kāi)發(fā)進(jìn)展(Ⅱ)[J]. 朱璇,錢(qián)明球,虞鑫海,張幼維,趙炯心. 合成技術(shù)及應(yīng)用. 2013(02)
[5]方差分析法淺析——單因素的方差分析[J]. 楊小勇. 實(shí)驗(yàn)科學(xué)與技術(shù). 2013(01)
[6]聚酰亞胺纖維制備及應(yīng)用[J]. 董杰,王士華,徐圓,夏清明,張清華. 中國(guó)材料進(jìn)展. 2012(10)
[7]均苯型聚酰亞胺薄膜在質(zhì)子輻照下的力學(xué)性能退化試驗(yàn)研究[J]. 張帆,沈自才,馮偉泉,鄭慧奇,丁義剛,趙春晴. 航天器環(huán)境工程. 2012(03)
碩士論文
[1]應(yīng)力場(chǎng)與帶電粒子輻照耦合作用下聚酰亞胺薄膜的損傷行為[D]. 李鵬.哈爾濱工業(yè)大學(xué) 2014
[2]質(zhì)子輻照下SiO2薄膜改性Kapton光學(xué)性能演化及其損傷機(jī)理[D]. 李瑞鋒.哈爾濱工業(yè)大學(xué) 2010
本文編號(hào):3363392
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