優(yōu)秀的雜散光抑制能力是天基空間目標(biāo)觀測系統(tǒng)正常工作的基礎(chǔ)。目前,系統(tǒng)的雜散光抑制能力多用軟件分析完成,其中材料表面的雙向反射分布函數(shù)（bidirectional reflection distribution function,BRDF）在其中扮演著不可或缺的角色,而在分析的過程中使用的BRDF數(shù)據(jù)多為BRDF模型,與實際材料表面的BRDF存在一定差異,使雜散光分析結(jié)果與真實雜散光分布情況之間產(chǎn)生誤差,因此獲得材料表面真實完整的BRDF數(shù)據(jù)至關(guān)重要�；诖�,本文搭建了一套基于天基空間目標(biāo)觀測系統(tǒng)的BRDF測試裝置。文中介紹了天基空間目標(biāo)觀測系統(tǒng)雜散光的來源與分類,遮光罩抑制雜散光的原理及雜散光分析常用的方法;詳細(xì)的介紹了BRDF的理論,明確其描述材料表面光散射特性的能力。結(jié)合表面輻射傳輸方程與BRDF定義,建立了BRDF在遮光罩雜散光分析中的數(shù)學(xué)模型。通過對理論部分的分析,能夠充分的了解到無論是系統(tǒng)內(nèi)部還是遮光罩,雜散光的分析都和BRDF有著必然的聯(lián)系,因此,天基空間目標(biāo)觀測系統(tǒng)材料表面的BRDF測試對系統(tǒng)雜散光的分析是非常重要的。針對目前BRDF的測試普遍采用相對測量原理的問題,本文... 

【文章來源】：長春理工大學(xué)吉林省

【文章頁數(shù)】：64 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【部分圖文】：

基于圖片處理的BRDF測量裝置圖

裝置以 LED 燈為光源和探測器，在半球形的金屬殼體固定位置打孔固定 LED燈，分別以不同位置的 LED 為光源，其他位置的 LED 為探測器實現(xiàn)不同角度的 BRDF的測量，裝置的優(yōu)點是體積小，沒有移動的部分，如光源、相機、透鏡等部分，結(jié)構(gòu)簡單，簡潔便攜，可以實現(xiàn)在半球空間的 BRDF 測量，一次可測量多組數(shù)據(jù)，可以實時測量，測量速度快，重復(fù)性好。裝置的不足之處在于 LED 燈的位置固定，只能實現(xiàn)固定角度的 BRDF 測量，可探測的波長有限。

裝置以 LED 燈為光源和探測器，在半球形的金屬殼體固定位置打孔固定分別以不同位置的 LED 為光源，其他位置的 LED 為探測器實現(xiàn)不同角度的 B量，裝置的優(yōu)點是體積小，沒有移動的部分，如光源、相機、透鏡等部分，，簡潔便攜，可以實現(xiàn)在半球空間的 BRDF 測量，一次可測量多組數(shù)據(jù)，可量，測量速度快，重復(fù)性好。裝置的不足之處在于 LED 燈的位置固定，只定角度的 BRDF 測量，可探測的波長有限。圖 1.2 Ben-Ezra 等人搭建的 BRDF 測量裝置圖

【參考文獻】：
期刊論文
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碩士論文
[1]BRDF測量系統(tǒng)優(yōu)化設(shè)計及實驗研究[D]. 王璐璐.西安工業(yè)大學(xué) 2018



本文編號：3280246