本文選題：面向 + 機(jī)載��； 參考：《中國(guó)民航大學(xué)》2015年碩士論文

【摘要】：機(jī)載存儲(chǔ)單元是航電系統(tǒng)數(shù)據(jù)通信過(guò)程的重要組成部分,關(guān)鍵存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的失效會(huì)對(duì)飛行安全造成重大影響。近些年,隨著芯片制造工藝的提升,電子元器件的尺寸越來(lái)越小,這樣的器件安裝在航電系統(tǒng)中發(fā)生單粒子翻轉(zhuǎn)的概率大幅度提高,單粒子翻轉(zhuǎn)故障的檢測(cè)也就變得越來(lái)越重要。本文就機(jī)載存儲(chǔ)單元的單粒子翻轉(zhuǎn)故障問(wèn)題進(jìn)行研究,根據(jù)并口通信、串口通信和ARINC429總線的不同特點(diǎn)分別設(shè)計(jì)相應(yīng)的故障測(cè)試系統(tǒng)。硬件方面,以FPGA最小系統(tǒng)板作為主控部分,完成測(cè)試數(shù)據(jù)的板卡端收發(fā)、模擬故障生成及不同類(lèi)型信號(hào)間的相互轉(zhuǎn)換等工作,使用NI公司的6548型數(shù)字收發(fā)板卡和德國(guó)的AIM公司的ACX429板卡完成輸出數(shù)據(jù)的采集任務(wù);軟件方面,使用LabVIEW與MATLAB混合編程的方式生成測(cè)試數(shù)據(jù),基于LabVIEW軟件和PXI自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)開(kāi)發(fā)單粒子翻轉(zhuǎn)故障測(cè)試系統(tǒng)。傳統(tǒng)的測(cè)試系統(tǒng)通常由示波器和邏輯分析儀等純粹的硬件工具搭建,連線復(fù)雜、數(shù)據(jù)分析效率較低。本文的測(cè)試系統(tǒng)采用軟硬件相結(jié)合的方式,由LabVIEW軟件控制硬件工具執(zhí)行測(cè)試過(guò)程,既減少了接線數(shù)量,又能夠模擬機(jī)載存儲(chǔ)單元的單粒子翻轉(zhuǎn)故障及其對(duì)測(cè)試系統(tǒng)造成的影響,實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)故障狀態(tài)、準(zhǔn)確查找故障地址。綜上所述,本測(cè)試系統(tǒng)減少了工作量,極大提高了測(cè)試效率。
[Abstract]:Airborne storage unit is an important part of the data communication process of avionics system. The failure of key storage data will have a significant impact on flight safety. In recent years, with the improvement of chip manufacturing technology, the size of electronic components is becoming smaller and smaller. The detection of single-particle flip fault becomes more and more important. In this paper, the single particle flip fault of airborne memory cell is studied. According to the different characteristics of parallel port communication, serial communication and ARINC429 bus, the corresponding fault test system is designed. In the hardware aspect, the FPGA minimum system board is used as the main control part to complete the transceiver of the test data board, to simulate the fault generation and the mutual conversion between different types of signals, and so on. The output data is collected by using the 6548 digital transceiver board of NI Company and the ACX429 board card of AIM Company of Germany, and the test data is generated by the mixed programming of LabVIEW and MATLAB in software. Based on LabVIEW software and PXI automatic test platform, a single particle flip fault test system is developed. The traditional test system is usually built with pure hardware tools such as oscilloscope and logic analyzer. The connection is complex and the efficiency of data analysis is low. The test system in this paper adopts the combination of software and hardware, and LabVIEW software controls the hardware tool to execute the test process, which not only reduces the number of wiring, but also simulates the single particle flip fault of the airborne memory cell and its influence on the test system. Real-time monitoring system fault state, accurate search fault address. To sum up, the test system reduces the workload and greatly improves the test efficiency.
【學(xué)位授予單位】：中國(guó)民航大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2015
【分類(lèi)號(hào)】：V243

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