具有故障細(xì)胞的胚胎電子陣列上目標(biāo)電路評(píng)估
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【摘要】:移除-進(jìn)化自修復(fù)通過(guò)進(jìn)化自修復(fù)模式提高了目標(biāo)電路的自修復(fù)能力,但在進(jìn)化過(guò)程中,目標(biāo)電路的評(píng)估尚缺少研究。在對(duì)胚胎電子陣列狀態(tài)和目標(biāo)電路形式數(shù)學(xué)描述的基礎(chǔ)上,以馬爾可夫不可修系統(tǒng)理論為指導(dǎo),研究具有故障細(xì)胞的胚胎電子陣列上目標(biāo)電路評(píng)估方法。研究了目標(biāo)電路狀態(tài)、狀態(tài)轉(zhuǎn)移率及工作狀態(tài)概率自動(dòng)計(jì)算方法,求解了目標(biāo)電路可靠度及平均故障前時(shí)間,以此評(píng)估目標(biāo)電路。仿真實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,該評(píng)估方法有效評(píng)估了進(jìn)化過(guò)程中的目標(biāo)電路形式,為移除-進(jìn)化自修復(fù)中目標(biāo)電路的優(yōu)選提供了理論參考依據(jù)。
【作者單位】: 軍械工程學(xué)院電子與光學(xué)工程系;
【基金】:國(guó)家自然科學(xué)基金項(xiàng)目(61372039;61601495)
【分類號(hào)】:V267
【正文快照】: 0引言航空電子設(shè)備的工作環(huán)境惡劣、現(xiàn)場(chǎng)維修困難、故障后果嚴(yán)重,使得其對(duì)可靠性要求十分嚴(yán)格,而基于胚胎電子電路[1]實(shí)現(xiàn)的電子系統(tǒng)具有實(shí)時(shí)自修復(fù)能力,可大大提高航空電子設(shè)備的可靠性,在空天電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)中具有廣闊的應(yīng)用前景[2-3]。胚胎電子電路是一種新型的仿生硬件[4-6]
【相似文獻(xiàn)】
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,本文編號(hào):1234842
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