抗輻照CMOS放大器集成電路設(shè)計技術(shù)(英文)
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【摘要】:抗輻射CMOS放大器集成電路作為航天器的核心應(yīng)用元器件越來越多用在宇航領(lǐng)域。為了更好地研究宇宙輻射環(huán)境中航天器抗輻照CMOS放大器集成電路性能和各種效應(yīng),并在太空輻射所產(chǎn)生機(jī)制的基礎(chǔ)上,從工藝和設(shè)計方面提出了抗輻照CMOS放大器集成電路抗輻照加固設(shè)計方法。在太空環(huán)境中,航天器中的集成電路存在CMOS元器件的線性跨導(dǎo)gm減小、閾值電壓偏離、轉(zhuǎn)角1/f噪聲幅值增加和襯底的漏電流增加。所以提出了新的抗輻照CMOS放大器集成電路的抗輻照集成電路的加固方法。通過該設(shè)計方法研制了抗輻照CMOS放大器集成電路,經(jīng)過測試驗證滿足航天應(yīng)用的要求。
【作者單位】: 北京理工大學(xué);中國空間技術(shù)研究院;奧地利ams
【分類號】:V443
【正文快照】: 1Introduction CMOS radiation harden circuit radiation harden is one ofthekeytechnologiesinaviationandaerospace application.The characteristics and functions of integrated circuit,which is the core component in spacecraft,have been takenasamain property
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,本文編號:1140108
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