隨著自動化技術的發(fā)展,數(shù)據(jù)自相關現(xiàn)象在現(xiàn)代制造業(yè)中普遍存在�；谧韵嚓P模型的殘差控制圖是解決自相關數(shù)據(jù)統(tǒng)計監(jiān)控問題的一類較好方法。現(xiàn)有研究均假設數(shù)據(jù)呈一階自相關,僅研究一階自回歸模型與殘差控制圖結合的過程監(jiān)控問題。但是,實際生產中觀測數(shù)據(jù)可能服從多階自相關�；诖�,針對數(shù)據(jù)多階自相關的過程監(jiān)控問題,運用蒙特卡洛仿真法,研究不同自回歸階數(shù)的自回歸模型對殘差控制圖性能的影響。研究表明:在殘差控制圖應用中,過程受控時,一階自回歸模型的表現(xiàn)與同階自回歸模型的性能表現(xiàn)相當,即二者發(fā)生第一類錯誤的概率相差不大;而在質量偏移診斷中,一階自回歸AR（1）模型的性能表現(xiàn)整體優(yōu)于同階的自回歸模型,大大降低了漏警的成本。 

【文章來源】：工業(yè)工程與管理. 2020,25(04)北大核心CSSCI

【文章頁數(shù)】：8 頁

【文章目錄】：
1 引言
2 模型與方法
    2.1 模型構建
        2.1.1 同階自回歸模型AR(p)
3 實驗與結果分析
    3.1 實驗設計
    3.2 仿真結果與分析
        3.2.1 實驗一：二階自相關數(shù)據(jù)擬合
        3.2.2 實驗二：三階自相關數(shù)據(jù)擬合
4 結論


【參考文獻】：
期刊論文
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本文編號：3492502