書寫表達(dá)干預(yù)考試焦慮的效果及機(jī)制
【學(xué)位授予單位】:東南大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:博士
【學(xué)位授予年份】:2016
【分類號(hào)】:G444;R749.72
【圖文】:
圖 1.1 書寫表達(dá)對(duì)高、低考試焦慮被試 CET-6 考試成績的影響論書寫表達(dá)干預(yù)對(duì)高、低考試焦慮大學(xué)生 CET-6 考試成績的影響存在差異本研究通過對(duì)即將參加 CET-6 考試的大學(xué)生進(jìn)行書寫表達(dá)干預(yù),旨在低考試焦慮的考生能否都從書寫表達(dá)中獲益。本研究將考生的 CET-4作為協(xié)變量,能夠控制考生個(gè)體英語水平的差異對(duì) CET-6 考試成績的影更好地考察書寫表達(dá)對(duì)考生的干預(yù)效果。研究結(jié)果表明,書寫表達(dá)只提試焦慮考生的 CET-6 考試成績,對(duì)低考試焦慮考生的成績沒有顯著影本研究發(fā)現(xiàn)在兩個(gè)時(shí)間點(diǎn)(考前 9 天和考前 30 分鐘)進(jìn)行書寫表達(dá)干升了高考試焦慮的考生 CET-6 考試的成績,對(duì)低考試焦慮考生的成績
通過創(chuàng)設(shè)高壓力和低壓力兩種測(cè)驗(yàn)情境,分別測(cè)量高、低考試驗(yàn)情境下的工作記憶容量。結(jié)果表明,高壓力測(cè)驗(yàn)情境下被試著升高,高考試焦慮被試在實(shí)驗(yàn)中的狀態(tài)焦慮水平顯著高于低考試焦慮被試在高壓力情境下工作記憶容量顯著降低,而低考記憶容量在兩種實(shí)驗(yàn)條件下差異不顯著;高、低考試焦慮被試高壓力情境下差異顯著,但在低壓力情境下差異不顯著。參考經(jīng)典的評(píng)價(jià)性壓力情境設(shè)置方法,通過指導(dǎo)語強(qiáng)調(diào)實(shí)驗(yàn)結(jié)次和錄像監(jiān)測(cè)等,創(chuàng)設(shè)高壓力測(cè)驗(yàn)情境,讓被試感知到被評(píng)價(jià)明,高壓力測(cè)驗(yàn)情境能夠成功地誘發(fā)了被試的狀態(tài)焦慮情緒。圖 3.1 高、低考試焦慮被試在不同測(cè)驗(yàn)壓力情境下的工作記憶容量
【參考文獻(xiàn)】
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本文編號(hào):2733548
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