本文關鍵詞：基于專利分析的共性技術識別研究框架

  更多相關文章： 共性技術 專利分析 識別框架 共性技術識別 產(chǎn)業(yè)共性技術

【摘要】：目前利用專利信息分析進行共性技術識別的方法較少,且建立的指標較單一,基本均是著重測度共性技術對其他技術領域的影響,還缺少較完整的識別方法體系。鑒于這種現(xiàn)狀,在詳細梳理共性技術定義及特征的基礎上,初步構建了基于專利分析識別共性技術的"雙層次—多維度"研究框架,從"技術影響范圍層面"與"技術研究階段層面"兩個層面,技術"基礎性""外部性""集成性""超前性"4個維度逐步識別出共性技術,為政府及產(chǎn)業(yè)界遴選共性技術提供新的方法和思路。
【作者單位】： 中國科學院武漢文獻情報中心;中國科學院大學;
【關鍵詞】： 共性技術 專利分析 識別框架 共性技術識別 產(chǎn)業(yè)共性技術
【分類號】：G306
【正文快照】： 在世界各國都高度重視技術創(chuàng)新,并將其作為科技政策的中心內(nèi)容,甚至提升到國家戰(zhàn)略高度的背景下,我國的“十二五”規(guī)劃綱要指出,要“堅持把科技進步和創(chuàng)新作為加快轉變經(jīng)濟發(fā)展方式的重要支撐”[1]。共性技術是整個技術創(chuàng)新鏈條的基礎環(huán)節(jié),能夠推動產(chǎn)業(yè)技術突破,其應用范圍廣

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本文編號：791595