發(fā)布時間：2017-03-31 05:21

  本文關(guān)鍵詞：基于專利文獻的技術(shù)機會分析方法研究，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

【摘要】： 在面向未來的技術(shù)分析需求背景下,本文從新的視角對技術(shù)機會分析作了概念界定和理論探討,并集中考察和研究了基于專利文獻的分析方法在技術(shù)機會分析過程中的應(yīng)用。 本文提出,技術(shù)機會分析是對特定單一技術(shù)領(lǐng)域的發(fā)展機會進行監(jiān)測、理解和判斷的一類技術(shù)預(yù)測方法。技術(shù)機會分析不僅是技術(shù)預(yù)測的子類,也是其他技術(shù)未來分析活動的組成部分或應(yīng)用環(huán)節(jié)。專利分析作為科技情報研究中的一類重要方法,也為挖掘技術(shù)的發(fā)展機會提供了豐富、有效的手段。 本文的研究重點是專利技術(shù)機會分析方法框架的設(shè)計。首先,借鑒9-Windows創(chuàng)造性思維模型的思想,提出了一個引導(dǎo)技術(shù)機會分析的概念模型。在縱向上包括技術(shù)系統(tǒng)、子系統(tǒng)和超系統(tǒng)三個層次,橫向上分為發(fā)展趨勢、發(fā)展?jié)摿桶l(fā)展方向三個方面,根據(jù)該模型可以從不同角度對技術(shù)的發(fā)展特征進行系統(tǒng)化研究。 然后,在概念模型基礎(chǔ)上,按照從系統(tǒng)層、子系統(tǒng)層到超系統(tǒng)層的分析順序,設(shè)計了三類方法分別對應(yīng)三個層次的特殊研究內(nèi)容,形成階梯狀方法模型。同時,篩選、發(fā)掘和比較全面地歸納了適于發(fā)現(xiàn)技術(shù)機會的專利分析方法,揭示了它們的含義、作用和使用過程,結(jié)合方法模型構(gòu)建了一個用于指導(dǎo)實際分析過程的動態(tài)、分層、可擴展方法框架。系統(tǒng)層包括9種主要反映技術(shù)發(fā)展趨勢的第一類方法;子系統(tǒng)層包含了第一類方法以及15種考察技術(shù)結(jié)構(gòu),反映發(fā)展方向的第二類方法;超系統(tǒng)層包含第一類和第二類方法,以及8種考察技術(shù)與科學(xué)、產(chǎn)業(yè)等的交互,反映發(fā)展?jié)摿Φ牡谌惙椒ā?最后,以TFT-LCD中的廣視角技術(shù)為對象,根據(jù)所構(gòu)建框架集成多個層面的方法進行了實證。在系統(tǒng)層選取了技術(shù)生命周期分析法和TRIZ技術(shù)成熟度預(yù)測,子系統(tǒng)層選取了IPC分類關(guān)聯(lián)、主題關(guān)聯(lián)與形態(tài)分析,超系統(tǒng)層選取了科學(xué)關(guān)聯(lián)度、專利與產(chǎn)業(yè)分類法結(jié)合分析等方法,比較全面、深入地揭示了廣視角技術(shù)的發(fā)展現(xiàn)狀和潛在機會,可結(jié)合專家意見和其他方法為技術(shù)決策提供參考。實驗結(jié)果驗證了基于專利文獻進行技術(shù)機會分析的合理性和可行性。 在實驗中,重點對TRIZ技術(shù)成熟度預(yù)測和專利形態(tài)分析進行了研究,引入調(diào)整被引次數(shù)指標和詞頻分析手段,加速了成熟度預(yù)測過程,從可行性和重要性兩個方面設(shè)計了未來可能形態(tài)選擇的分析方案。
【關(guān)鍵詞】：技術(shù)機會分析 專利分析 方法框架
【學(xué)位授予單位】：中國科學(xué)院研究生院（文獻情報中心）
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2008
【分類號】：G306.0
【目錄】：

• 摘要4-5
• Abstract5-10
• 第1章 緒論10-17
• 1.1 研究背景10-12
• 1.1.1 技術(shù)未來分析與科技情報的協(xié)同發(fā)展需求10-11
• 1.1.2 專利文獻分析的特殊視角11-12
• 1.2 問題提出12-13
• 1.3 研究意義13
• 1.4 研究內(nèi)容、方法與創(chuàng)新點13-17
• 1.4.1 研究內(nèi)容與論文組織結(jié)構(gòu)13-15
• 1.4.2 研究方法15
• 1.4.3 可能的創(chuàng)新之處15-17
• 第2章 專利技術(shù)機會分析理論背景17-25
• 2.1 技術(shù)機會分析的概念和意義17-20
• 2.1.1 概念界定17-19
• 2.1.2 意義19-20
• 2.2 技術(shù)機會分析與相關(guān)領(lǐng)域20-22
• 2.2.1 技術(shù)預(yù)測20-21
• 2.2.2 技術(shù)預(yù)見21-22
• 2.2.3 技術(shù)評估22
• 2.2.4 技術(shù)路線圖22
• 2.2.5 技術(shù)競爭情報22
• 2.3 專利技術(shù)機會分析的定位22-24
• 2.4 本章小結(jié)24-25
• 第3章 專利技術(shù)機會分析研究現(xiàn)狀述評25-36
• 3.1 技術(shù)未來分析方法論研究25-27
• 3.2 專利技術(shù)機會分析方法與應(yīng)用研究27-32
• 3.2.1 專利指標28-29
• 3.2.2 專利地圖29-31
• 3.2.3 與其他技術(shù)預(yù)測方法的結(jié)合31-32
• 3.3 專利技術(shù)機會分析研究進展總結(jié)32-35
• 3.3.1 專利技術(shù)機會分析的優(yōu)劣勢32-34
• 3.3.2 研究有待完善之處34-35
• 3.4 本章小結(jié)35-36
• 第4章 專利技術(shù)機會分析方法框架36-68
• 4.1 技術(shù)的系統(tǒng)觀點36
• 4.2 技術(shù)機會的分析角度36-38
• 4.3 技術(shù)機會分析模型38-43
• 4.3.1 技術(shù)機會分析概念模型38-40
• 4.3.2 技術(shù)機會分析方法模型40-42
• 4.3.3 方法模型的特點42-43
• 4.4 專利技術(shù)機會分析分層方法框架43-67
• 4.4.1 系統(tǒng)層方法框架43-53
• 4.4.2 子系統(tǒng)層方法框架53-63
• 4.4.3 超系統(tǒng)層方法框架63-67
• 4.5 本章小結(jié)67-68
• 第5章 專利技術(shù)機會分析實驗——以TFT-LCD 廣視角技術(shù)為例68-98
• 5.1 研究對象介紹68-69
• 5.2 數(shù)據(jù)準備69-70
• 5.2.1 數(shù)據(jù)源69
• 5.2.2 數(shù)據(jù)采集69-70
• 5.3 廣視角技術(shù)系統(tǒng)層實證分析70-77
• 5.3.1 技術(shù)生命周期分析法71
• 5.3.2 TRIZ 技術(shù)成熟度預(yù)測71-77
• 5.4 廣視角技術(shù)子系統(tǒng)層實證分析77-94
• 5.4.1 IPC 分類統(tǒng)計78
• 5.4.2 關(guān)鍵詞統(tǒng)計78-80
• 5.4.3 主題關(guān)聯(lián)、分類關(guān)聯(lián)和時間關(guān)聯(lián)80-85
• 5.4.4 專利形態(tài)分析85-94
• 5.5 廣視角技術(shù)超系統(tǒng)層實證分析94-97
• 5.5.1 技術(shù)環(huán)境94-95
• 5.5.2 科學(xué)環(huán)境95
• 5.5.3 產(chǎn)業(yè)環(huán)境95-97
• 5.6 本章小結(jié)97-98
• 第6章 結(jié)語98-100
• 6.1 研究成果98
• 6.2 研究局限98-99
• 6.3 可能的發(fā)展99-100
• 參考文獻100-106
• 發(fā)表論文和參與課題目錄106-107
• 致謝107-108

【引證文獻】

中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前4條

1 徐峰;冷伏海;;專利技術(shù)形態(tài)分析方法研究進展[J];圖書情報工作;2010年10期

2 陳雪飛;肖仙桃;史新艷;;基于文獻的領(lǐng)域知識網(wǎng)絡(luò)構(gòu)建研究[J];圖書情報知識;2011年03期

3 王興旺;湯琰潔;;基于專利地圖的技術(shù)預(yù)測體系構(gòu)建及其實證研究[J];情報理論與實踐;2013年03期

4 王興旺;;基于專利地圖的技術(shù)分析預(yù)測方法研究[J];情報科學(xué);2013年09期

中國碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫 前1條

1 王艷領(lǐng);專利等級劃分方法的研究與實現(xiàn)[D];河北工業(yè)大學(xué);2011年

  本文關(guān)鍵詞：基于專利文獻的技術(shù)機會分析方法研究，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

，

本文編號：279007