本文關鍵詞：采用異常檢測的技術機會識別方法研究

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【摘要】：【目的】為探索一種準確而及時地識別技術機會的方法,提出一種基于異常檢測技術識別技術機會的框架。【方法】通過構(gòu)建相似度矩陣進行多維尺度分析,基于多種異常點檢測算法識別出潛在技術機會專利,結(jié)合TRIZ的技術系統(tǒng)進化法則從潛在技術機會專利中挖掘出技術機會。【結(jié)果】獲取激光光刻技術2000年 2015年的德溫特專利數(shù)據(jù),對該領域不同階段的技術機會進行識別,分析結(jié)果顯示,通過此框架識別出的前兩個階段的技術機會就是下一階段的主流技術,同時,改進后的極紫外光刻技術可能成為下一代激光光刻領域的主流技術之一。【局限】利用TRIZ判定技術機會存在一定的主觀性,識別準確度有待進一步提高。【結(jié)論】基于異常檢測的技術機會識別方法可以有效地識別出技術機會,有助于提高識別技術機會的及時性。
【作者單位】： 北京工業(yè)大學經(jīng)濟與管理學院;
【分類號】：G306.0
【正文快照】： 1 引言 在科學技術飛速發(fā)展的今天,創(chuàng)新能力已經(jīng)成為衡量企業(yè)競爭力的一個重要因素。而作為技術創(chuàng)新的重要基礎,技術機會越來越受到企業(yè)乃至整個行業(yè)的重視,如何盡可能早地發(fā)現(xiàn)技術機會,把握正確的技術方向,往往決定了企業(yè)未來發(fā)展的成敗。因此,以技術機會理論為基礎,從數(shù)據(jù)

【相似文獻】

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1 郝p，

本文編號：1238785