為降低探測(cè)器的熱噪聲和暗電流,研制了一套高精度和高穩(wěn)定度科學(xué)級(jí)裸片探測(cè)器制冷系統(tǒng)。提出了一種基于低溫循環(huán)機(jī)和薄膜電加熱器組合的探測(cè)器控溫方法,減小了測(cè)試光源及環(huán)境溫度變化對(duì)器件自身性能的影響。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,探測(cè)器制冷系統(tǒng)降溫速率不大于0.6℃/min,控溫精度優(yōu)于±0.08℃,將該制冷系統(tǒng)應(yīng)用于多角度偏振成像儀面陣探測(cè)器的光電性能測(cè)試,測(cè)試結(jié)果表明:探測(cè)器工作溫度升高6.5℃,暗電流增加1倍左右,20℃時(shí)暗電流是0℃時(shí)的6.93倍。近紅外波段的量子效率受溫度影響較大,810 nm和900 nm波段在0～15℃工作區(qū)間內(nèi)量子效率的溫度變化率為0.2993%℃^-1和0.4575%℃^-1。探測(cè)器暗電流和光譜響應(yīng)度的溫度特性研究為多角度偏振成像儀在軌輻射定標(biāo)的溫度校正提供了依據(jù)。

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【文章目錄】：
1 引 言
2 偏振測(cè)量原理與探測(cè)器溫度的影響
3 制冷控制方案
    3.1 CCD光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)
    3.2 探測(cè)器制冷系統(tǒng)
4 實(shí)驗(yàn)結(jié)果與分析
    4.1 制冷系統(tǒng)的標(biāo)定
    4.2 暗電流溫度影響分析
    4.3 量子效率溫度影響分析
5 結(jié) 論



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