本文選題：TD-LTE-A　切入點(diǎn)：R10　出處：《北京郵電大學(xué)》2013年碩士論文　論文類(lèi)型：學(xué)位論文

【摘要】：TD-LTE是我國(guó)具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的移動(dòng)通信系統(tǒng),目前很多國(guó)家都在使用TD-LTE系統(tǒng),我國(guó)香港也即將于2012年底商用TD-LTE。作為第四代移動(dòng)通信系統(tǒng)之一,TD-LTE的演進(jìn)技術(shù)—TD-LTE-Advanced的研究進(jìn)展在全球范圍內(nèi)受到重視。 終端射頻一致性測(cè)試是衡量終端性能的關(guān)鍵技術(shù),是驗(yàn)證終端指標(biāo)達(dá)到商用水平的權(quán)威手段。根據(jù)TD-SCDMA和TD-LTE的商用化進(jìn)程,終端產(chǎn)品在投入市場(chǎng)之前,需要經(jīng)過(guò)反復(fù)的測(cè)試來(lái)驗(yàn)證和提高產(chǎn)品性能。終端射頻一致性測(cè)試不僅有利于產(chǎn)品性能的提高,還可以推動(dòng)技術(shù)的發(fā)展和完善。本論文旨在利用市場(chǎng)上流行的TD-LTE系統(tǒng)模擬器、頻譜儀、信號(hào)源、微波源等儀表,研發(fā)我國(guó)獨(dú)立自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的TD-LTE-ARIO系統(tǒng)的終端射頻一致性測(cè)試系統(tǒng)。 本文的研究點(diǎn)主要集中在TD-LTE-A測(cè)試技術(shù)研究和測(cè)試系統(tǒng)的硬件與軟件的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)。首先介紹課題的研究背景、課題來(lái)源和意義；詳細(xì)介紹影響TD-LTE-A終端射頻指標(biāo)的載波聚合技術(shù)和增強(qiáng)型多天線(xiàn)技術(shù),在此基礎(chǔ)上分析這兩種技術(shù)在終端測(cè)試中的測(cè)試思路,進(jìn)而提出載波聚合和上行多天線(xiàn)技術(shù)的測(cè)試方法和測(cè)試原理圖。針對(duì)一致性測(cè)試系統(tǒng)的開(kāi)發(fā),論文從硬件和軟件兩方面進(jìn)行了詳細(xì)研究。硬件部分主要包括系統(tǒng)總體設(shè)計(jì)、硬件設(shè)計(jì)模型、系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)與硬件設(shè)計(jì)驗(yàn)證四部分；軟件部分主要包括系統(tǒng)軟件概述、模塊設(shè)計(jì)、儀表控制模塊的編碼與實(shí)現(xiàn)、測(cè)試?yán)K的編碼與實(shí)現(xiàn)與系統(tǒng)設(shè)計(jì)評(píng)估。系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)保證了測(cè)試?yán)\(yùn)行的硬件環(huán)境,軟件設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了測(cè)試系統(tǒng)初步的自動(dòng)化。最后總結(jié)論文內(nèi)容,計(jì)劃下一步研究工作。
[Abstract]:TD-LTE is a mobile communication system with independent intellectual property rights in our country. At present, many countries are using TD-LTE system. In end of 2012, commercial TD-LTE. as one of the 4th generation mobile communication systems, TD-LTE-Advanced, the evolution technology of TD-LTE, will be paid more attention to in the world. Terminal RF conformance testing is the key technology to measure the terminal performance and the authoritative means to verify that the terminal index reaches the commercial level. According to the commercial process of TD-SCDMA and TD-LTE, the terminal product is put into the market before it is put into the market. It is necessary to verify and improve the product performance through repeated tests. The terminal RF conformance test is not only conducive to the improvement of product performance, but also can promote the development and improvement of technology. This paper aims to utilize the popular TD-LTE system simulator in the market. Spectrometer, signal source, microwave source and so on, develop the terminal radio frequency consistency test system of TD-LTE-ARIO system with independent intellectual property in our country. This paper mainly focuses on the research of TD-LTE-A test technology and the design and implementation of hardware and software of the test system. Firstly, the research background, source and significance of the subject are introduced. This paper introduces the carrier aggregation technology and enhanced multi-antenna technology which affect the radio frequency index of TD-LTE-A terminal in detail. On this basis, the testing ideas of these two technologies in terminal test are analyzed. Furthermore, the test method and test schematic diagram of carrier convergence and uplink multi-antenna technology are presented. For the development of conformance test system, the hardware and software are studied in detail. The hardware part mainly includes the overall design of the system. The hardware design model, the system hardware design and the hardware design verification, the software part mainly includes the system software outline, the module design, the instrument control module code and the realization, The hardware design of the system ensures the hardware environment of the test case, and the software design realizes the preliminary automation of the test system. Finally, the content of the paper is summarized and the next research work is planned.
【學(xué)位授予單位】：北京郵電大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2013
【分類(lèi)號(hào)】：TN929.5

【參考文獻(xiàn)】

相關(guān)期刊論文 前9條

1 李明;費(fèi)相如;;基于GPIB總線(xiàn)的移動(dòng)臺(tái)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)解決方案[J];電信工程技術(shù)與標(biāo)準(zhǔn)化;2006年02期

2 王海燕;于劍飛;石美憲;;LTE終端射頻測(cè)試技術(shù)分析[J];電信網(wǎng)技術(shù);2011年02期

3 嚴(yán)豐慶,錢(qián)澄;射頻開(kāi)關(guān)及其在通信系統(tǒng)中的應(yīng)用[J];電子器件;2005年01期

4 李福林;徐寧;董俊林;肖飛;;移動(dòng)終端的射頻測(cè)試[J];電子質(zhì)量;2006年02期

5 張建新,保石,郭祥玉,郭云志;電子設(shè)備的濾波技術(shù)[J];光電對(duì)抗與無(wú)源干擾;2003年01期

6 趙陽(yáng);石美憲;步曉龍;聶蔚青;;TD-LTE-Advanced新技術(shù)研究及終端設(shè)計(jì)和測(cè)試挑戰(zhàn)[J];電信網(wǎng)技術(shù);2012年08期

7 孫愛(ài)晶;光隔離器的結(jié)構(gòu)類(lèi)型研究[J];西安郵電學(xué)院學(xué)報(bào);2003年03期

8 蘇暢;李迎松;劉乘源;楊曉冬;姜_";;一種寬帶功分器設(shè)計(jì)與分析[J];系統(tǒng)仿真技術(shù);2010年04期

9 宋起柱;王俊峰;張莎;;TD-SCDMA終端射頻測(cè)試技術(shù)研究[J];中國(guó)無(wú)線(xiàn)電;2006年04期

相關(guān)碩士學(xué)位論文 前7條

1 楊旭;TD-LTE發(fā)射信號(hào)與信道互易性的射頻特性研究[D];北京郵電大學(xué);2011年

2 董榮榮;LTE及LTE-Advanced小區(qū)邊緣性能提升的中繼技術(shù)研究[D];中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué);2011年

3 邢金強(qiáng);TD-LTE終端射頻一致性測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[D];北京郵電大學(xué);2012年

4 付晨;TD-SCDMA終端射頻一致性測(cè)試系統(tǒng)的研究與搭建[D];北京郵電大學(xué);2007年

5 王冰;TD-SCDMA終端射頻一致性測(cè)試?yán)碚撆c研究[D];北京郵電大學(xué);2007年

6 李江鋒;TD-SCDMA終端射頻自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[D];北京郵電大學(xué);2008年

7 陳恒;微帶環(huán)形器的優(yōu)化設(shè)計(jì)和工藝研究[D];華中科技大學(xué);2008年

，

本文編號(hào)：1560608