采用X線頭影測量的方法對60例成年腭裂患者進行顱頜面部軟硬組織測量,并與60例正常成人進行對照。結(jié)果發(fā)現(xiàn),與對照組比較,硬組織方面腭裂患者SNA(上牙槽座角)、N-A-Po(頜凸角)和ANS-Ptm(上頜長)等結(jié)果偏小,差異有統(tǒng)計學(xué)意義(P<0.01);而軟組織方面腭裂患者G-Sn-Po’(面型角)、ULP(上唇突度)減少,差異有統(tǒng)計學(xué)意義(P<0.01)。表明硬組織方面腭裂患者的上頜骨存在明顯的發(fā)育不足、硬腭長度過短、下頜頦部前伸現(xiàn)象明顯,下頜骨向下旋轉(zhuǎn)及后退。而軟組織方面腭裂患者面中1/3凹陷明顯,上唇突度不足。

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【文章目錄】：
1 材料與方法
    1.1 病例資料
    1.2 實驗儀器
    1.3 研究方法
        1.3.1 拍攝條件
        1.3.2 X線頭影側(cè)位片的測量
        1.3.3 測量標志點及測量所需平面
        1.3.4 測量項目
    1.4 統(tǒng)計學(xué)處理
2 結(jié)果
3 討論



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