目的研究不同隙料厚度值設(shè)置對InLab MC XL系統(tǒng)Cerec Blocs全瓷冠邊緣和內(nèi)部適合性的影響,為臨床應(yīng)用提供實(shí)驗(yàn)依據(jù)。方法制備一右上頜第一磨牙全冠預(yù)備體模型,翻制一硅橡膠陰模,分別灌制esthetic-base gold全瓷石膏、超硬石膏預(yù)備體模型各30個(gè)。30個(gè)esthetic-base gold全瓷石膏預(yù)備體用于InLab MC XL系統(tǒng)inEos掃描單元進(jìn)行光學(xué)印模采集,獲得30個(gè)數(shù)字化代型。將此30個(gè)數(shù)字化代型隨機(jī)分為6組,運(yùn)用該系統(tǒng)V2.40 R1800操作軟件將隙料厚度值分別設(shè)置為0μm（A組）,10μm（B組）,20μm（C組）,30μm（D組）,40μm（E組）和50μm（F組）,通過數(shù)控銑床切削得到Cerec Blocs全瓷冠30個(gè),每組各5個(gè)。另外30個(gè)超硬石膏預(yù)備體模型,用于Cerec Blocs全瓷冠粘結(jié)。經(jīng)粘結(jié)、包埋、剖開后,OLYMPUS SZ51體式顯微鏡掃描試件剖面。應(yīng)用SAS 9.1軟件對實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)學(xué)分析。結(jié)果利用Image J專業(yè)測試軟件測定全瓷冠邊緣和內(nèi)部適合性,實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)顯示:A、B組頰舌側(cè)、近遠(yuǎn)中的邊緣適合性值均>120μ... 

【文章來源】：重慶醫(yī)科大學(xué)重慶市

【文章頁數(shù)】：50 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【文章目錄】：
英漢縮略語名詞對照表
摘要
ABSTRACT
前言
1 材料與方法
2 實(shí)驗(yàn)結(jié)果
3 討論與結(jié)論
全文總結(jié)
本實(shí)驗(yàn)的意義及不足之處
    1. 本實(shí)驗(yàn)的現(xiàn)實(shí)和理論意義
    2. 本實(shí)驗(yàn)的不足之處
    3. 本實(shí)驗(yàn)待研究的方向
參考文獻(xiàn)
附圖
文獻(xiàn)綜述
    參考文獻(xiàn)
致謝
攻讀研究生期間發(fā)表論文及學(xué)術(shù)交流情況


【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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[2]不同光學(xué)印模法對全瓷冠邊緣和內(nèi)部適合性影響的實(shí)驗(yàn)研究[J]. 譚發(fā)兵,王璐,付鋼,吳樹洪,金萍.  華西口腔醫(yī)學(xué)雜志. 2010(01)
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本文編號：3629051