目的:通過X線頭顱定位側位片測量,比較前牙反合患者與單側唇腭裂患者在顱頜面形態(tài)結構特征,為臨床上確定診斷、治療方案和預后提供參考依據。方法:按照納入標準隨機抽取2013年4月²014年1月于烏魯木齊市口腔醫(yī)院正畸科就診的前牙反合（1組）與唇腭裂患者（2組）79例,患者平均年齡11¹5歲。1組41例,前牙反合擬做固定正畸者;2組,38例,單側完全或不完全唇裂合并有單側完全或不完全性腭裂,與2³歲之前已行唇腭裂修復術,現需做固定正畸者。對兩組病例正畸治療前的頭顱定位側位片進行測量,分析比較兩組顱頜面生長發(fā)育的特點和差異,并作統計學分析。結果:前牙反合組SNA值、Co-A值、SNB值較唇腭裂組大,且下頜角Ar-Go-Me值、SN-MP值、PP-MP值、N-S-Gn值、SN-MP值均較唇腭裂組小,差異有統計學意義（P0.01）。前牙反合組N-S-Ba值、ANB值、A-N-Pg值、UL-Ep值較唇腭裂組小,LL-Ep值較唇腭裂組大,差異無統計學意義（P0.05）。結論:兩組患者顱頜面結構存在差異。唇腭裂組患者的上、下頜骨發(fā)育較前牙... 

【文章來源】：第十三次全國口腔正畸學術會議（2014年會）論文集中華口腔醫(yī)學會會議論文集

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