目的研究不同光學(xué)印模法及不同瓷材料對Cerec 3D /inlab MC XL系統(tǒng)中全瓷冠邊緣和內(nèi)部適合性的影響,為臨床應(yīng)用提供實驗依據(jù)。方法制備一右下第一磨牙全冠預(yù)備體模型,復(fù)制64個代型,采用隨機抽樣法,8個用于直接法采集光學(xué)印模,制作8個Cerec Blocs全瓷冠,24個用于間接法采集光學(xué)印模,分別加工制作8個Cerec Blocs、Incoris AL、In-ceram YZ冠。剩余32個代型用于全瓷冠粘結(jié),然后采用修正USPHS標(biāo)準(zhǔn)和SEM法評價直接法和間接法Cerec Blocs全瓷冠的邊緣和內(nèi)部適合性;SEM法評價間接法中不同瓷材料冠的邊緣和內(nèi)部適合性。SAS9.1軟件對實驗數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計分析。結(jié)果修正USPHS法顯示87.5%的邊緣測試點臨床可接受,各組邊緣適合性比較無差異（P>0.05）;SEM法顯示各組邊緣適合性均<120μm,Incoris AL組（65.1±28.2μm）與直接法和間接法Cerec Blocs組（43.2±15.0μm ,38.3±19.3μm）、In-ceram YZ組（43.4±13.6μm）比較有統(tǒng)計學(xué)差異（P<0.01）... 

【文章來源】：重慶醫(yī)科大學(xué)重慶市

【文章頁數(shù)】：49 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【部分圖文】：

全瓷冠適合性測量點Fig10Measuringpointsofall-ceramiccrown’sfit

圖 13 邊緣和內(nèi)部適合性測試結(jié)果柱形圖 (μm，n =8， X ±s)Fig 13 Bar diagram of the marginal and internal fit圖13顯示的是通過SEM圖像測得的各組Cerec Blocs冠各部位適合性柱形圖。實驗數(shù)據(jù)采用兩獨立樣本的t檢驗(α=0.05)進行統(tǒng)計分析。結(jié)果顯示，直接法組和間接

In-ceram YZ 43.4±13.6 132.6±20.0 124.7±17.0 130.1±19.6 120.8±16.6 232.1±11.8 141.9±40.9三種瓷材料冠在邊緣、近中、遠中、頰面、舌面、牙合面以及內(nèi)部適合性的均值和標(biāo)準(zhǔn)差見表 3。掃描電鏡圖像評價結(jié)果顯示，Cerec Blocs、IncorisAL、In-ceramYZ 組邊緣適合性均值分別 38.3μm（范圍 11.0～89.3μm)、65.1μm （范圍 38.7～124.9μm）、43.4μm（范圍 25.4～66.7μm)。檢查還發(fā)現(xiàn)，三種瓷材料 24 個冠除去Incoris AL 組一個邊緣測試點為 124.9μm 外，其余 95 個邊緣測試點均為臨床可接受，可接受率為 99.0%。Cerec Blocs、Incoris AL、In-ceram YZ 組內(nèi)部適合性均值分別為 112.4μm（范圍 47.3～269.7μm）、139.8μm（范圍 62.8～289.8μm）、141.9μm（范圍 83.2～252.6μm）。此外，各組瓷材料冠在近中、遠中、頰面、舌面、牙合面的均值均存在一定不同，各組冠牙合面適合性均值相對較大，分別為分別為240.6±18.7μm、256.3±18.3μm、232.1±11.8μm。其中最小值為 In-ceram YZ 組的212.5μm，最大值是 Incoris AL 組的 289.8μm。

【參考文獻】：
期刊論文
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本文編號：3588667