目的評(píng)估齦下缺損行鄰面提升（Proximal Box Elevation technique,PBE）后全瓷冠的邊緣適合性。方法按納排標(biāo)準(zhǔn)選取新鮮拔除的第三磨牙8顆,行全瓷冠標(biāo)準(zhǔn)牙體預(yù)備,邊緣位于釉牙骨質(zhì)界（Cemento-Enamel Junction,CEJ）上1mm。在近遠(yuǎn)中鄰面以CEJ下2mm為基準(zhǔn)線,制備4mm（頰舌向）×1mm（近遠(yuǎn)中）的齦下缺損模型。每顆牙隨機(jī)選取一個(gè)齦下缺損行PBE,即用Beautifil Flow Plus F00+BeautiBond將邊緣提升至CEJ上1mm,Super-Snap Disks拋光,作為實(shí)驗(yàn)組,即PBE組;另一側(cè)齦下缺損不做處理為對(duì)照組1,即齦下缺損組;同一全冠的頰側(cè)及舌側(cè)邊緣為對(duì)照組2,即頰舌側(cè)組。常規(guī)制作全鋯冠。采用臨床探查對(duì)邊緣適合性初步測(cè)定,參照改良USPHS標(biāo)準(zhǔn)將其記錄為邊緣等級(jí)A、B、C、D,并對(duì)A級(jí)進(jìn)行A1、A2的細(xì)分;依據(jù)臨床探查手感判斷冠邊緣狀態(tài)并記錄為fit、unfit。采用硅橡膠間隙印模法模擬全冠與預(yù)備體間的間隙,按照選定研究位點(diǎn)片切后行100倍體式顯微鏡觀察:先行冠邊緣狀態(tài)評(píng)估,即fit、over、under、... 

【文章來源】：天津醫(yī)科大學(xué)天津市 211工程院校

【文章頁(yè)數(shù)】：60 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

實(shí)驗(yàn)流程（組織結(jié)構(gòu)圖）

科大學(xué)碩士學(xué)位論文 齦下缺損鄰面提升后全瓷冠邊緣適合性的實(shí)驗(yàn)研究.4 修復(fù)體制作實(shí)驗(yàn)樣本送修復(fù)工藝室，對(duì)預(yù)備后牙齒直接行 3shape D800 數(shù)字印模、3e Dental Manage 設(shè)計(jì)邊緣位置及整體外形并排版，愛迪特 SHT 瓷塊切割燒結(jié)，試戴調(diào)磨，外染色。以上操作均由同一熟練技師完成。.5 試件底座制備光固化個(gè)性化托盤材料(Supertec)制成窄長(zhǎng)方體狀，分別在牙根及冠部按壓，要求冠方埋入 2mm，根方埋入 4mm(要求 Supertec 不遮擋齦下缺損洞型置，且二者間距離大于 2mm 為佳)，以穩(wěn)定牙齒(見圖 2)；光照固化。

圖 3 各組研究位點(diǎn)對(duì)修整好的硅膠，采用刀片一次性切開以制備研究位點(diǎn)的測(cè)試件。切開順 a1-b1、a2-b2、c1-c2（詳見附錄圖 3-6）。行 a1-b1、a2-b2 切開后，選擇中膠作為測(cè)試件，其同時(shí)包含 a1、a2、b1、b2 四個(gè)研究位點(diǎn)；行 c1-c2 切開對(duì)切開斷面的兩側(cè)隨機(jī)選取一側(cè)作為測(cè)試件，即每顆牙的頰舌側(cè)組得到兩試件，分別代表 c1、c2 研究位點(diǎn)。2 試件測(cè)試.1 臨床探查法離體牙于試件底座固定后，分別就位全冠及冠方底座，橡皮筋纏繞 3 圈初定（橡皮筋拉伸至冠根向長(zhǎng)度 3 倍的情況下，彈簧測(cè)力計(jì)測(cè)得其力量約為）。手指輕壓力拿取試件底座兩端，以一次性口腔探針為器械，在肉眼觀察對(duì)各組研究位點(diǎn)（見圖 3）探查并參照修正美國(guó)公共衛(wèi)生服務(wù)標(biāo)準(zhǔn)（Unitees Public Health Service，USPHS）對(duì)邊緣等級(jí)進(jìn)行評(píng)價(jià)（見表 2）；并依據(jù)手感初步判斷邊緣狀態(tài)（見圖 4）。注意：橡皮筋及探針均為一次性使用器械，只供單顆牙的單次測(cè)量使用；

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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本文編號(hào)：2951523