關(guān)于透射電鏡樣品污染問(wèn)題的探討
本文關(guān)鍵詞: 電鏡 超薄切片 染色 污染 出處:《臨床與病理雜志》2014年05期 論文類(lèi)型:期刊論文
【摘要】:在透射電鏡樣品制備過(guò)程中,經(jīng)常會(huì)遇到超薄切片被污染的問(wèn)題。本文分析了造成超薄切片污染的原因,并針對(duì)超薄切片制作過(guò)程中的污染,提出了改善切片室環(huán)境、銅網(wǎng)支持膜、合理使用切片刀及刀槽的改進(jìn)措施,針對(duì)切片電子染色過(guò)程中的污染,提出了在染液配制過(guò)程中嚴(yán)格遵守操作程序、在染色操作過(guò)程中嚴(yán)格堅(jiān)持正確的方法等注意事項(xiàng),并闡明了必要的防范措施,這些將有效避免電鏡樣品污染現(xiàn)象。
[Abstract]:In the process of preparation of TEM samples, the problem of ultra-thin sections being polluted is often encountered. This paper analyzes the causes of the contamination of ultra-thin slices, and aims at the pollution in the process of making ultra-thin slices. The improvement measures of improving the environment of slicing room, supporting membrane of copper mesh, and using slicing knife and knife slot reasonably are put forward. In view of the contamination in the process of section electronic dyeing, the operation procedure is strictly observed in the preparation of dye solution. In the process of dyeing, we strictly adhere to the correct methods and other points for attention, and clarify the necessary precautions, which will effectively avoid the phenomenon of electron microscope sample contamination.
【作者單位】: 大慶油田總醫(yī)院病理科;
【分類(lèi)號(hào)】:R361.2
【正文快照】: 在透射電鏡樣品制備過(guò)程中,經(jīng)常會(huì)遇到超薄切片被污染的問(wèn)題。透射電鏡下觀察,視野中出現(xiàn)各種形狀的黑色顆粒,覆蓋在切片表面,嚴(yán)重影響著電鏡樣品的觀察研究。造成切片污染的原因很多,本人總結(jié)了多年的工作經(jīng)驗(yàn),就這些常見(jiàn)問(wèn)題進(jìn)行探討。1超薄切片制作過(guò)程中的污染1.1切片室環(huán)
【參考文獻(xiàn)】
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【共引文獻(xiàn)】
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本文編號(hào):1473379
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