10g光通信asic芯片_光通信技術就業(yè)_光通信儀表與測試應用
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光通信儀表與測試應用
《光通信儀表與測試應用》介紹了當前光通信測試中常用的儀表,如光功率計、光時域反射計、光譜分析儀、光波長計、光回波損耗測試儀、光纖偏振模色散分析儀、光纖色度色散分析儀、數字傳輸分析儀、通信信號分析儀(眼圖儀)等的理論基礎、使用方法和使用技巧。書中還結合目前使用的主流儀表和光通信技術標準,對這些儀表在光纖光學、光無源器件、光通信系統(tǒng)中的測試應用進行了講解。本書根據作者在測試工作中的實際經驗編寫,沒有進行過多的理論推導,主要是配合圖示和操作實例介紹儀表的應用,具有很強的實用性。
《光通信儀表與測試應用》適合從事通信和電子工程領域工作的人員,特別是研發(fā)、生產、運營維護和計量校準人員,以及大專院校通信工程、電子測量與儀器專業(yè)的師生閱讀參考。
第1章 光通信系統(tǒng)測試基礎
1.1 光通信概論
1.1.1 概述
1.1.2 光通信系統(tǒng)分類
1.1.3 光通信系統(tǒng)的基本組成
1.2 光纖通信中的測量量值
1.2.1 概述
1.2.2 相關量綱單位基礎
1.2.3 dBm與mW
1.2.4 dB與dBm
1.2.5 dB與%
1.3 光通信系統(tǒng)中的測量參數
1.3.1 平均波長(Mean Wavelength)
1.3.2 中心波長(Center Wavelength)
1.3.3 峰值波長(Peak Wavelength)
1.3.4 峰值密度Peak Density(1nm)
1.3.5 Sigma(s)譜寬
1.3.6 3dB譜寬
1.3.7 半功率點譜寬FWHM(Full Width Half Max)
1.3.8 邊模抑制比SMSR(Side Mode Suppression Ratio)
1.3.9 光信噪比(OSNR)
1.3.10 回波損耗(Return Loss)
1.3.11 事件盲區(qū)長度(Event Dead Zone Length)
1.3.12 衰減盲區(qū)長度(Attenuation Dead Zone Length)
1.3.13 光纖損耗(Optical Fiber Attenuation)
1.3.14 偏振模色散
1.3.15 色散
1.3.16 光纖傳輸特性和光學特性參數
1.3.17 光纖幾何尺寸參數
1.3.18 比特率(Bit rate)
1.3.19 差錯(Error)
1.3.20 誤比特率BER(Bit Error Rate)
1.3.21 抖動(Jitter)
1.3.22 輸出抖動(Output jitter)
1.3.23 抖動轉移函數(Jitter transfer function)
1.3.24 輸入轉移容限(Jitter tolerance)
1.3.25 漂移(Wander)
1.3.26 消光比EX(Extinction ratio)
1.4 光通信測試項目和儀表配置
1.4.1 基礎光波測試
1.4.2 光無源器件測試項目及儀表的配置
1.4.3 高速光通信系統(tǒng)測試項目及儀表配置
第2章 光功率計
2.1 光功率計的基本概述
2.1.1 光功率的定義
2.1.2 光功率的常用單位
2.2 光功率計的用途和分類
2.2.1 光功率計的用途
2.2.2 光功率計的分類
2.3 光功率計的原理和指標
2.3.1 光功率計的原理與構成
2.3.2 光功率計的性能指標
2.3.3 幾種典型商用光功率計介紹
2.4 光功率計在光通信系統(tǒng)測試中的典型應用
2.4.1 在光發(fā)射端機測試中的應用
2.4.2 在光接收端機測試中的應用
2.4.3 光纖、光纜的衰減量測試
2.5 光功率計用于其他通信儀表和器件的測量
2.5.1 光衰減器的測量
2.5.2 穩(wěn)定光源的測量
2.5.3 光有源器件的測量
2.5.4 光無源器件的測量
2.6 光功率計的計量校準
2.6.1 光功率標準
2.6.2 光功率計的計量檢定
第3章 光源
3.1 光源的發(fā)光原理
3.1.1 概述
3.1.2 半導體發(fā)光二極管(LED)光源
3.1.3 激光光源
3.1.4 半導體(LD)激光光源
3.1.5 垂直腔半導體激光器
3.1.6 面發(fā)射和邊發(fā)射
3.2 光源的類型
3.2.1 多模光源
3.2.2 單模光源
3.2.3 寬譜光源
3.2.4 多縱模光源
3.2.5 單縱模光源
3.2.6 可調諧激光光源
3.2.7 可見光源
3.2.8 激光放大器
3.2.9 偏振穩(wěn)定光源
3.3 光源的典型指標
3.3.1 光源的中心波長
3.3.2 光源的發(fā)光功率
3.3.3 光源的功率穩(wěn)定度
3.3.4 光源的光譜寬度
3.4 典型光源介紹
3.4.1 JDSU的OLS-6
3.4.2 Agilent的86100系列
3.4.3 EXFO的FLS-2200
3.5 光源的使用注意事項及使用技巧
3.5.1 穩(wěn)定的光功率
3.5.2 穩(wěn)定的光波長
3.5.3 端口的清潔和保養(yǎng)
3.6 光源的應用實例
3.6.1 多模光纖損耗測試的光源選擇
3.6.2 寬帶光源測試光器件工作帶寬
3.6.3 偏振相關損耗
3.6.4 光源的簡單調制
第4章 光衰減器
4.1 光衰減器的原理
4.1.1 概述
4.1.2 固定式光衰減器
4.1.3 光可變衰減器(Variable Optical Attenuator,VOA)
4.2 光衰減器的典型指標
4.2.1 插入損耗
4.2.2 衰減值的準確度
4.2.3 衰減值的重復性
4.2.4 偏振相關損耗
4.2.5 回波損耗
4.3 典型光衰減器介紹
4.3.1 Anritsu的MN95D
4.3.2 JDSU的OLA-55
4.3.3 EXFO的FVA-60B
4.3.4 Agilent的8157xA
4.4 光衰減器的使用注意事項及使用技巧
4.5 光衰減器的測試實例
4.5.1 應用光衰減器測量光功率計線性度
4.5.2 應用光衰減器測量光源對反射的靈敏度
第5章 光譜分析儀
5.1 光譜分析儀原理
5.1.1 概述
5.1.2 光譜分析儀基本結構框圖
5.1.3 Fabry-Perot干涉型光譜分析儀
5.1.4 邁克爾遜干涉型光譜分析儀
5.1.5 衍射光柵型光譜分析儀
5.2 光譜分析儀典型指標
5.2.1 波長范圍
5.2.2 分辨率帶寬(RBW)
5.2.3 動態(tài)范圍
5.2.4 波長準確度
5.2.5 功率準確度
5.2.6 靈敏度
5.2.7 偏振相關性
5.3 典型光譜分析儀介紹
5.3.1 Agilent 8614xB 系列光譜分析儀
5.3.2 安立(Anritsu)公司MS9740A光譜分析儀
5.3.3 EXFO公司光譜分析儀系列
5.3.4 JDSU公司光譜分析儀系列
5.4 光譜分析儀使用注意事項及使用技巧
5.4.1 使用
5.4.2 保養(yǎng)和清潔
5.4.3 預熱和自動對準(AUTO-ALIGN)
5.4.4 波長校準和功率校準
5.4.5 選擇合適的分辨力帶寬(RBW)
5.4.6 完成一次常規(guī)測試的步驟和參數設置
5.5 使用光譜分析儀的典型測試實例
5.5.1 光源測試
5.5.2 光無源器件測試
5.5.3 光放大器(EDFA)測試
5.5.4 DWDM系統(tǒng)測試
第6章 光波長計
6.1 光波長計原理
6.1.1 光波長的定義
6.1.2 光波長測試方法
6.1.3 光波長計測量原理
6.2 光波長計的主要指標
6.3 典型光波長計介紹
6.3.1 安捷倫多波長計系列
6.3.2 EXFO公司WA-7600 & WA-7100 多波長計
6.4 多波長計使用注意事項
6.5 光波長計的使用及典型應用
6.5.1 DWDM系統(tǒng)安裝和維護測試要求
6.5.2 DWDM系統(tǒng)結構和測試點
6.5.3 86120B/C操作說明
6.5.4 86120B/C在DWDM系統(tǒng)中的典型應用
6.6 光譜分析儀和多波長計的性能比較
第7章 光時域反射計
7.1 光時域反射計原理
7.1.1 概述
7.1.2 有關的基本物理概念
7.1.3 光時域反射計的原理和框圖
7.2 光時域反射計的典型技術指標
7.2.1 距離特性
7.2.2 衰耗特性
7.2.3 盲區(qū)
7.2.4 動態(tài)范圍
7.3 典型光時域反射計介紹
7.3.1 EXFO公司的OTDR
7.3.2 JDSU公司的OTDR
7.4 如何使用光時域反射計
7.4.1 采樣
7.4.2 測量
7.4.3 改善OTDR的功能
7.4.4 安全注意事項
第8章 光回波損耗測試儀
8.1 光回波損耗測試儀原理
8.1.1 光回波損耗的定義
8.1.2 光回波損耗測試方法
8.1.3 光回波損耗測試儀的自校準
8.2 光回波損耗測試儀的典型指標
8.2.1 光源發(fā)光功率
8.2.2 光源穩(wěn)定性
8.2.3 光功率準確度
8.2.4 光回波損耗準確度
8.2.5 光回波損耗測試儀的使用技巧及注意事項
8.3 典型光回波損耗測試儀介紹
8.3.1 Agilent的816xx系列
8.3.2 JDSU的RM3系列
8.3.3 EXFO的IQS-12001B
第9章 偏振模色散(PMD)測試儀
9.1 偏振模色散測試儀原理
9.1.1 偏振模色散測量的幾種方法及原理
9.1.2 偏振模色散(PMD)測試儀的原理
9.2 偏振模色散測試儀的主要指標
9.2.1 偏振模色散(PMD)
9.2.2 偏振相關損耗(PDL)
9.3 偏振模色散測試儀典型儀表介紹
9.3.1 Agilent公司的偏振模色散(PMD)測試儀
9.3.2 EXFO公司的偏振模色散(PMD)測試儀
9.3.3 JDSU公司的偏振模色散(PMD)測試儀
9.4 偏振模色散測試儀測試中應注意的問題
9.4.1 測試模式的選擇
9.4.2 測試參數的設置
9.4.3 偏振模色散(PMD)仿真器在測試中的使用
9.4.4 測試曲線和測試結果的分析
9.5 使用偏振模色散測試儀的典型測試實例
9.5.1 在高速光傳輸系統(tǒng)中光纖、光纜偏振模色散(PMD)測試
9.5.2 各種光器件的偏振相關損耗(PDL)測試
第10章 色度色散(CD)測試儀
10.1 色散測試儀原理
10.1.1 概述
10.1.2 色散(CD)測試儀的原理
10.2 色散測試儀主要指標介紹
10.2.1 零色散波長
10.2.2 零色散斜率
10.2.3 色散
10.3 色散測試儀典型儀表介紹
10.3.1 PerkinElmer Optoelectronics公司的色散測試儀
10.3.2 Photon Kinetics Inc.公司的色散測試儀
10.3.3 Agilent公司的色散測試儀
10.3.4 JDSU公司的色散測試儀
10.3.5 EXFO公司的色散測試儀
10.4 色散測試儀測試中應注意的問題
10.4.1 測試參數的設置
10.4.2 測試前參考值測試的必要性
10.4.3 色散分段測量的方法
10.4.4 色散測試儀對光纖長度的測量
10.5 典型使用案例
10.5.1 單模光纖色散(CD)測試
10.5.2 色散測試儀的其他應用--光纖折射率測試
10.6 色散測試儀的計量校準
10.6.1 光纖色散標準
10.6.2 色散量值傳遞系統(tǒng)
10.6.3 色散測試儀的計量校準
第11章 光纖模場直徑譜損耗測試儀
11.1 模場直徑譜損耗測試儀原理
11.1.1 概述
11.1.2 光纖模場直徑譜損耗測試儀的原理
11.2 模場直徑譜損耗測試儀主要指標介紹
11.2.1 模場直徑
11.2.2 截止波長
11.2.3 譜衰減
11.2.4 數值孔徑
11.3 模場直徑譜損耗測試儀典型儀表介紹
11.3.1 Photon Kinetics公司的光纖綜合參數測試系統(tǒng)
11.3.2 PE.fiberoptics公司的譜損耗截止波長模場直徑有效面積測試系統(tǒng)
11.4 模場直徑譜損耗測試儀測試中應注意的問題
11.4.1 使用模場直徑標準光纖對儀表進行校準
11.4.2 截止波長測試中造成測試結果差異的原因
11.4.3 單模光纖和多模光纖衰減譜測試中應注意的問題
11.5 典型使用案例
11.5.1 單模光纖模場直徑測試
11.5.2 單模光纖截止波長測試
11.5.3 單模光纖譜損耗測試
第12章 光纖幾何尺寸測試儀
12.1 光纖幾何尺寸測試儀原理
12.1.1 概述
12.1.2 光纖幾何尺寸測試儀的原理
12.2 光纖幾何尺寸測試儀主要指標介紹
12.2.1 包層直徑
12.2.2 包層不圓度
12.2.3 纖芯直徑
12.2.4 纖芯不圓度
12.2.5 芯/包層同心度誤差
12.3 光纖幾何尺寸測試儀典型儀表介紹
12.3.1 Photon Kinetics公司的光纖幾何尺寸測試儀
12.3.2 EXFO公司的光纖綜合測試儀
12.4 光纖幾何尺寸測試儀測試中應注意的問題
12.4.1 使用包層直徑標準光纖對儀表進行校準
12.4.2 使用折射率分布標準光纖對儀表進行校準
12.4.3 對被測光纖端面的切割角度進行測量
12.4.4 光纖單元制備時清潔的重要性
12.5 典型使用案例
12.5.1 單模光纖幾何特性測試
12.5.2 多模光纖折射率分布測試和數值孔徑測試
第13章 數字傳輸分析儀
13.1 概述
13.1.1 誤碼
13.1.2 抖動
13.1.3 漂移
13.2 工作原理和技術指標
13.2.1 工作原理
13.2.2 技術指標和主要功能
13.3 典型儀表介紹
13.3.1 概況
13.3.2 安捷倫科技(Agilent Technology)的產品
13.3.3 安立(Anritsu)公司的產品
13.3.4 捷迪訊(JDSU)公司的產品
13.3.5 其他公司的數字傳輸分析儀
13.4 數字傳輸分析儀的典型測試應用
13.4.1 數字傳輸分析儀使用的一般性知識
13.4.2 誤碼性能參數測試
13.4.3 抖動性能參數測試
13.4.4 漂移性能參數測試
13.4.5 其他重要應用
第14章 通信信號分析儀
14.1 概述
14.1.1 眼圖分析法
14.1.2 眼圖及其模板
14.1.3 參數定義
14.2 工作原理和主要技術指標
14.2.1 工作原理
14.2.2 技術指標
14.3 典型儀表介紹
14.3.1 泰克公司的產品
14.3.2 安捷倫公司的產品
14.4 眼圖測量與儀表使用
14.4.1 使用前的準備工作
14.4.2 儀表自檢、預熱與校準
14.4.3 眼圖測量的基本設置
附錄 清潔
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